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On the automatic generation of test patterns from mixed-level hardware descriptions
1989
Signatur: D2128

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
On the automatic generation of test patterns from mixed-level hardware descriptions
Erscheinungsjahr
1989
Beschreibungen/Notizen
  • Kaiserslauten, Univ., Diss., 1989
Sprache
Englisch
Identifikatoren
OCLC-Nummer: 636993696, 636993696
Titel-ID: 990005194390106463
Format
16, 256 S. : zahlr. graph. Darst.
Systemstelle
TVE
Schlagworte
VLSI, Prüftechnik, Testmustergenerator, KARATE, Implementierung

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