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Unified methods for VLSI simulation and test generation
The Kluwer international series in engineering and computer science : 73 (Alle Bände)
1989
Signatur: YGQ2864

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Unified methods for VLSI simulation and test generation
Ist Teil von
Ort / Verlag
Boston, Mass. [u.a.] : Kluwer Acad. Publ.
Erscheinungsjahr
1989
Sprache
–
Identifikatoren
ISBN: 0792390253
OCLC-Nummer: 635882438, 635882438
Titel-ID: 990005137490106463
Format
XII, 148 S. : graph. Darst.
Systemstelle
TVE, YGQ
Schlagworte
VLSI, Prüftechnik, Simulation, Schaltungsentwurf

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