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  • BibTeX
Integrierter Test anwendungsspezifischer Schaltkreise
Anwendungen der Datenverarbeitung
1989
Signatur: YCM1430

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Integrierter Test anwendungsspezifischer Schaltkreise
Ist Teil von
  • Anwendungen der Datenverarbeitung
Ort / Verlag
Köln : Verl. TÜV Rheinland
Erscheinungsjahr
1989
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Beschreibungen/Notizen
  • Aachen, Techn. Hochsch., Diss., 1989 u.d.T.: Budde, Wolfgang O.: Konzept zum integrierten Test anwendungsspezifischer Schaltkreise
Sprache
–
Identifikatoren
ISBN: 3885856506
OCLC-Nummer: 635953926, 635953926
Titel-ID: 990005088780106463
Format
248 S.
Systemstelle
YGQ, YCM
Schlagworte
Kundenspezifische Schaltung, Prüfung

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