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BibTeX
Yield simulation for integrated circuits
The Kluwer international series in engineering and computer science : 33
(
Alle Bände
)
Walker, Duncan M
1987
Signatur:
YGQ2775
Details
Autor(en) / Beteiligte
Walker, Duncan M
Titel
Yield simulation for integrated circuits
Ist Teil von
The Kluwer international series in engineering and computer science : 33
(
Alle Bände
)
Ort / Verlag
Boston [u.a.] : Kluwer
Erscheinungsjahr
1987
Sprache
–
Identifikatoren
ISBN: 0898382440
OCLC-Nummer: 635713576, 635713576
Titel-ID: 990004664880106463
Format
X, 209 S. : Ill., graph. Darst.
Systemstelle
YGQ
Schlagworte
Integrierte Schaltung
,
Technologie
,
Ausbeute
,
Simulation
,
VLSI
,
Zuverlässigkeit
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