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Yield simulation for integrated circuits
The Kluwer international series in engineering and computer science : 33 (Alle Bände)
1987
Signatur: YGQ2775

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Yield simulation for integrated circuits
Ist Teil von
Ort / Verlag
Boston [u.a.] : Kluwer
Erscheinungsjahr
1987
Sprache
–
Identifikatoren
ISBN: 0898382440
OCLC-Nummer: 635713576, 635713576
Titel-ID: 990004664880106463
Format
X, 209 S. : Ill., graph. Darst.
Systemstelle
YGQ
Schlagworte
Integrierte Schaltung, Technologie, Ausbeute, Simulation, VLSI, Zuverlässigkeit

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