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Probabilistische Verfahren für den Test hochintegrierter Schaltungen
Informatik-Fachberichte : 140 (Alle Bände)
1987
Signatur: YCB2693

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Probabilistische Verfahren für den Test hochintegrierter Schaltungen
Ist Teil von
Ort / Verlag
Berlin [u.a.] : Springer
Erscheinungsjahr
1987
Beschreibungen/Notizen
  • Karlsruhe, Univ., Diss., 1986 u.d.T.: Wunderlich, Hans-Joachim: Probabilistische Verfahren zur Verbesserung der Testbarkeit synthetisierter digitaler Schaltungen
Sprache
Deutsch
Identifikatoren
ISBN: 3540180729, 0387180729
OCLC-Nummer: 1070100766, 1070100766
Titel-ID: 990004501730106463
Format
XII, 133 S. : graph. Darst.
Systemstelle
YCB
Schlagworte
Schaltnetz, Prüfung

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