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Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Defect recognition and image processing in III-V compounds : proceedings of the Internat. Symposium on Defect Recognition and Image Processing in III-V Compounds (DRIP), Montpellier, France, July 2 - 4, 1985
Ist Teil von
Ort / Verlag
Amsterdam [u.a.] : Elsevier
Erscheinungsjahr
1985
Sprache
Identifikatoren
ISBN: 0444425586
OCLC-Nummer: 888938377, 888938377
Titel-ID: 990004089130106463
Format
XII, 306 S. : Ill., graph. Darst.
Systemstelle
UAL
Schlagworte
Bildverarbeitung, Störstelle, Drei-Fünf-Halbleiter

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