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VLSI testing & [and] validation techniques
1985
Signatur: TVE1910

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
VLSI testing & [and] validation techniques
Ort / Verlag
Washington, DC : IEEE Computer Soc. Pr. [u.a.]
Erscheinungsjahr
1985
Sprache
–
Identifikatoren
ISBN: 0444879471
OCLC-Nummer: 1072405783, 1072405783
Titel-ID: 990003167760106463
Format
IX, 603 S. : graph. Darst.
Systemstelle
TVE
Schlagworte
Test, CAD, VLSI, Prüftechnik

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