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X-ray microanalysis in the electron microscope
Practical methods in electron microscopy : 5,2 (Alle Bände)
2. Print, 1978
Signatur: UFA1113-5,2

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
X-ray microanalysis in the electron microscope
Ist Teil von
Auflage
2. Print
Ort / Verlag
Amsterdam [u.a.] : North-Holland Publ. Co.
Erscheinungsjahr
1978
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISBN: 0720442508, 0720406072
OCLC-Nummer: 1067465751, 1067465751
Titel-ID: 990001771830106463
Format
S. 317 - 547 : Ill., graph. Darst.
Systemstelle
UFA
Schlagworte
Elektronenmikroskop, Röntgenstrahlung, Mikroanalyse, Elektronenmikroskopie, Röntgenmikroskopie

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