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Raster-Elektronenmikroskopie
2., neubearb. u. erw. Aufl, 1977
Signatur: UFK1189(2)

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Raster-Elektronenmikroskopie
Auflage
2., neubearb. u. erw. Aufl
Ort / Verlag
Berlin [u.a.] : Springer
Erscheinungsjahr
1977
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Sprache
Deutsch
Identifikatoren
ISBN: 3540081542, 0387081542
OCLC-Nummer: 251402871, 251402871
Titel-ID: 990000660820106463
Format
XI, 282 S. : zahlr. Ill., graph. Darst.
Systemstelle
UFK
Schlagworte
Rasterelektronenmikroskopie

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