International Workshop on the Measurement and Characterization of Ultra Shallow Doping Profiles in Semiconductors (4 : 1997 : Research Triangle Park, NC)
- Art des Eintrags
- Konferenz oder Veranstaltung
- Bevorzugter Name
- International Workshop on the Measurement and Characterization of Ultra Shallow Doping Profiles in Semiconductors (4 : 1997 : Research Triangle Park, NC)
- Variante Namen
- International Workshop on the Measurement and Characterization of Ultra-Shallow Doping Profiles in Semiconductors (4 : 1997 : Research Triangle Park, NC)
- Geographische Zuordnung
- GND-ID
- 1901472-7
- Mehr Informationen
Daten bereitgestellt von lobid-gnd, ein Dienst des Hochschulbibliothekszentrum des Landes NRW (hbz)
