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IEEE Standard for Reduced-Pin and Enhanced-Functionality Test Access Port and Boundary-Scan Architecture
IEEE Std 1149.7-2022 (Revision of IEEE Std 1149.7-2009), 2022, p.1-1048
2022
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IEEE Standard for Reduced-Pin and Enhanced-Functionality Test Access Port and Boundary-Scan Architecture
IEEE Std 1149.7-2009, 2010, p.1-985
2010
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IEEE Standard for Reduced-Pin and Enhanced-Functionality Test Access Port and Boundary-Scan Architecture
IEEE Std 1149.7-2009, 2010, p.1-985
2010
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IEEE Standard Definitions of Terms for Nonlinear, Active, and Nonreciprocal Waveguide Components
ANSI/IEEE Std 457-1982, 1982, p.1-16
1982
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