Sortiert nach
1, 2021
Link zum Volltext
Semiconductor Devices, 2023, p.111-138
2023
Link zum Volltext
1, 1992
Link zum Volltext
1, 1992
Link zum Volltext
75th Anniversary of the Transistor, 2023
1, 2023
Link zum Volltext
Reliability Prediction for Microelectronics, 2024, p.255-287
2024
Link zum Volltext
Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies, 2009, Vol.12, p.441-516
2009
Link zum Volltext
Reliability and Failure of Electronic Materials and Devices, 2015, p.327-385
Second Edition, 2015
Link zum Volltext
75th Anniversary of the Transistor, 2023
1, 2023
Link zum Volltext
Trends in Network and Communications, p.476-485
Link zum Volltext
Advanced Circuits for Emerging Technologies, 2012, p.581-597
2012
Link zum Volltext
Advances in VLSI, Communication, and Signal Processing, 2020, p.371-392
2020
Link zum Volltext
Hairy Nanoparticles, 2023
2023
Link zum Volltext
Artificial Intelligence and Sustainable Computing, 2021, p.167-173
2021
Link zum Volltext
Plasmonic Catalysis, 2021
2021
Link zum Volltext
Control and Automation, and Energy System Engineering, p.364-370
Link zum Volltext
Advances in VLSI, Communication, and Signal Processing, p.377-385
Link zum Volltext
Modelling, Simulation and Intelligent Computing, 2020, Vol.659, p.528-536
2020
Link zum Volltext
Semiconductor Physics, p.1325-1380
Link zum Volltext
Fundamental Properties of Semiconductor Nanowires, 2020, p.289-306
2020
Link zum Volltext
Photosynergetic Responses in Molecules and Molecular Aggregates, 2020, p.171-196
2020
Link zum Volltext
Plasmonic Catalysis, 2021
2021
Link zum Volltext
Advanced Micro- and Nanomaterials for Photovoltaics, 2019
2019
Link zum Volltext
Aktive Filter
Suchergebnisse filtern
Filter anzeigenNur zeigen
Publikationsform
Sprache
Erscheinungsjahr
n.n
n.n
Thema
- Hot Carriers
- Science & Technology
- Hot Carrier Injection
- Engineering
- Semiconductors
- Technology
- Bias Temperature Instability
- Engineering, Electrical & Electronic
- Hot Carrier
- Reliability
- Carrier Heating
- Fowler–nordheim Tunneling
- Hot Carrier Effect
- Hot Carrier Effects
- Lattice Temperature
- Leakage Current
- Telecommunications
- Threshold Voltage
- Tunneling
- Cmos
Kollektion
Zeitschrift / Serie
Neu hinzugefügt