Sortiert nach
Sie befinden Sich nicht im Netzwerk der Universität Paderborn. Der Zugriff auf elektronische Ressourcen ist gegebenenfalls nur via VPN oder Shibboleth (DFN-AAI) möglich.
mehr Informationen...
2022 IEEE 40th VLSI Test Symposium (VTS), 2022, p.1-7
2022
- Link zum Volltext
Recent Advances in Systems, Control and Information Technology, p.784-798
Link zum Volltext
2020 IEEE 38th VLSI Test Symposium (VTS), 2020, p.1-6
2020
- Link zum Volltext
Large-Scale Scientific Computing, p.399-407
Link zum Volltext
2023 IEEE International Test Conference (ITC), 2023, p.1-10
2023
- Link zum Volltext
Lecture Notes in Computer Science, vol. 13702, 2022, p.301-323
2022
Link zum Volltext
2022 IEEE International Test Conference (ITC), 2022, p.334-339
2022
- Link zum Volltext
2022 IEEE International Test Conference (ITC), 2022, p.446-455
2022
- Link zum Volltext
Materials today : proceedings, 2020, Vol.22, p.897-903
2020
Link zum Volltext
2019 IEEE 28th Asian Test Symposium (ATS), 2019, p.147-1475
2019
- Link zum Volltext
2023 IEEE International Test Conference (ITC), 2023, p.105-110
2023
- Link zum Volltext
2022 IEEE 40th VLSI Test Symposium (VTS), 2022, p.1-7
2022
- Link zum Volltext
2020 IEEE International Test Conference (ITC), 2020, p.1-5
2020
- Link zum Volltext
Product-Focused Software Process Improvement, p.243-259
Link zum Volltext
2020 IEEE International Test Conference (ITC), 2020, p.1-10
2020
- Link zum Volltext
2021 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT), 2021, p.1-6
2021
- Link zum Volltext
2021 IEEE 30th Asian Test Symposium (ATS), 2021, p.109-114
2021
- Link zum Volltext
Journal of physics. Conference series, 2024, Vol.2692 (1), p.012014
2024
Link zum Volltext
E3S web of conferences, 2023, Vol.405, p.04034
2023
Link zum Volltext
Journal of physics. Conference series, 2024, Vol.2731 (1), p.012029
2024
Link zum Volltext
2022 IEEE International Test Conference (ITC), 2022, p.355-364
2022
- Link zum Volltext
Software Quality: Quality Intelligence in Software and Systems Engineering, p.31-50
Link zum Volltext
Materials today : proceedings, 2017, Vol.4 (2), p.3182-3187
2017
Link zum Volltext
2023 Annual Reliability and Maintainability Symposium (RAMS), 2023, p.1-6
2023
- Link zum Volltext
Web Engineering, p.372-387
Link zum Volltext
Aktive Filter
Suchergebnisse filtern
Filter anzeigenNur zeigen
Sprache
Erscheinungsjahr
n.n
n.n
Thema
- Science & Technology
- Technology
- Engineering
- Computer Science
- Engineering, Electrical & Electronic
- Testing
- Computer Science, Theory & Methods
- Circuit Testing
- Built-In Self-Test
- Circuit Faults
- Computer Science, Hardware & Architecture
- Computer Science, Software Engineering
- System Testing
- Automatic Testing
- Software
- Materials Science
- Materials Science, Multidisciplinary
- Conferences
- Computer Science, Artificial Intelligence
- Computer Science, Information Systems
Kollektion
- IEEE/IET Electronic Library
- IngentaConnect
- ACM DIGITAL LIBRARY
- HEAL-Link subscriptions: Springer Book Series
- Free E-Journal (出版社公開部分のみ）
- IngentaConnect Journals
- eBooks on EBSCOhost
- Ebook Central Perpetual and DDA
- Springer Books
- Elsevier ScienceDirect Journals Complete
- Sociological Abstracts
- SpringerLink (Online service)
- WK Lippincott Williams & Wilkins–Connect here FIRST to enable access
- SAGE Journals
- Publisher or Other Site
- SpringerLINK Contemporary (Konsortium Baden-Württemberg)
- Wiley-Blackwell Online Books - All Titles (includes Withdrawn titles)
- Wiley Online Library Journals
- Elsevier Journal Backfiles on ScienceDirect (DFG Nationallizenzen)
- Taylor & Francis eBooks A-Z
Neu hinzugefügt