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Stability conditions and robustness analysis of a general MMSE run-to-run controller
IIE transactions, 2019-11, Vol.51 (11), p.1279-1287
2019
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Modified EWMA controller subject to metrology delay
IIE transactions, 2013-04, Vol.45 (4), p.409-421
2013
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Yield prediction via spatial modeling of clustered defect counts across a wafer map
IIE transactions, 2007-12, Vol.39 (12), p.1073-1083
2007
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Initial allocation compensation algorithm for redundancy allocation: The scanning heuristic
IIE transactions, 2008-07, Vol.40 (7), p.678-689
2008
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Do people choose an optimal response criterion in an inspection task?
IIE transactions, 1998-03, Vol.30 (3), p.257-266
1998
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OPTIMAL BURN-IN SIMULATION ON HIGHLY INTEGRATED CIRCUIT SYSTEMS
IIE transactions, 1992-11, Vol.24 (5), p.33-43
1992
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