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Microscopy today, 2020-03, Vol.28 (2), p.12-18
2020
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Measurement of Grain Boundary Properties in Cu(ln,Ga)Se2 Thin Films
Microscopy today, 2018-05, Vol.26 (3), p.32-39
2018
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The ORNL Lectures on Scanning Probe Microscopy, Part 2: The Force Dimension: Electronic and Ionic Transport Measurements via Kelvin Probe Force Microscopy
Microscopy today, 2019-11, Vol.27 (6), p.18-23
2019
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New Insights into the Atomic-Scale Structures and Behavior of Steels
Microscopy today, 2012-07, Vol.20 (4), p.44-48
2012
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Non-Destructive Characterization of UO2+x Nuclear Fuels
Microscopy today, 2017-11, Vol.25 (6), p.42-47
2017
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Xe+ Plasma FIB: 3D Microstructures from Nanometers to Hundreds of Micrometers
Microscopy today, 2016-05, Vol.24 (3), p.32-39
2016
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Ground beetles as weed control agents: effects of farm management on granivory
American entomologist (Lanham, Md.), 2005-12, Vol.51 (4), p.224-226
2005
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NetNotes
Microscopy today, 2018-05, Vol.26 (3), p.56-60
2018
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Preparation of Cross Sections of Difficult Materials for SEM Imaging
Microscopy today, 2018-05, Vol.26 (3), p.40-45
2018
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Oxygen X-Ray Maps: Comparing a Vintage WDS System with a Modern SDD System
Microscopy today, 2016-09, Vol.24 (5), p.34-37
2016
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Diffraction Contrast Tomography in the Laboratory – Applications and Future Directions
Microscopy today, 2016-07, Vol.24 (4), p.34-43
2016
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Atom Probe Tomography of Compound Semiconductors for Photovoltaic and Light-Emitting Device Applications
Microscopy today, 2012-05, Vol.20 (3), p.18-24
2012
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A Hybrid Ultramicrotomy-FIB Technique for Preparing Serial Electron Transparent Thin Sections from Particulate Samples
Microscopy today, 2015-01, Vol.23 (1), p.18-23
2015
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Nanoanalysis of Presolar Grains
Microscopy today, 2018-03, Vol.26 (2), p.7-7
2018
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Adhesive-Based Atom Probe Sample Preparation
Microscopy today, 2018-03, Vol.26 (2), p.24-31
2018
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Nanoscale Automated Phase and Orientation Mapping in the TEM
Microscopy today, 2012-11, Vol.20 (6), p.38-42
2012
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Preparation of Stainless Steel Surfaces for Scanning Probe Microscopy
Microscopy today, 2016-05, Vol.24 (3), p.52-55
2016
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Far-Field High-Energy Diffraction Microscopy: A Non-Destructive Tool for Characterizing the Microstructure and Micromechanical State of Polycrystalline Materials
Microscopy today, 2017-09, Vol.25 (5), p.36-45
2017
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Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry
Microscopy today, 2011-03, Vol.19 (2), p.30-33
2011
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Auger Spectroscopy in Planetary Science: Elemental Analysis of Presolar Silicate Grains
Microscopy today, 2018-03, Vol.26 (2), p.12-17
2018
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Vacuum Magnetic Force Microscopy at High Temperatures: Observation of Permanent Magnets
Microscopy today, 2014-11, Vol.22 (6), p.12-17
2014
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