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A proposal of ESD control method with considering semiconductor device charged voltage
2016 Annual Reliability and Maintainability Symposium (RAMS), 2016, p.1-5
2016
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An ESD control method considering the semiconductor device charged voltage
2016 38th Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium (EOS/ESD), 2016, p.1-6
2016
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Impact of difference between discharging methods on CDM testing
Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium Proceedings 2010, 2010, p.1-6
2010
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