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Impact of Gate Edge Roughness Variability on FinFET and Gate-All-Around Nanowire FET
IEEE electron device letters, 2019-04, Vol.40 (4), p.510-513
2019
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Three-dimensional simulations of random dopant and metal-gate workfunction variability in an In0.53Ga0.47As GAA MOSFET
IEEE electron device letters, 2013-02, Vol.34 (2), p.205-207, Article 205
2013
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Comparison of Fin-Edge Roughness and Metal Grain Work Function Variability in InGaAs and Si FinFETs
IEEE transactions on electron devices, 2016-03, Vol.63 (3), p.1209-1216
2016
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Impact of cross-section of 10.4 nm gate length Ino.53Gao.47As FinFETs on metal grain variability
2016 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), 2016, p.241-244
2016
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Three-dimensional simulations of random dopant and metal-gate workfunction variability in an In 0.53 Ga 0.47 As GAA MOSFET
IEEE electron device letters, 2013-02, Vol.34 (2), p.205-207
2013
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A study of the influence of VM allocation policies on MPI Bcast and MPI Exchange latency in cloud
Revista IEEE América Latina, 2017-01, Vol.15 (8), p.1490-1496
2017
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  • BibTeX
General Workload Manager: A task manager as a service
2015 IEEE International Conference on Communication Workshop (ICCW), 2015, p.1859-1864
2015
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A Flexible Cluster System for the Management of Virtual Clusters in the Cloud
2015 IEEE 17th International Conference on High Performance Computing and Communications, 2015 IEEE 7th International Symposium on Cyberspace Safety and Security, and 2015 IEEE 12th International Conference on Embedded Software and Systems, 2015, p.1693-1698
2015
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Study of statistical variability in nanoscale transistors introduced by LER, RDF and MGG
2013 Spanish Conference on Electron Devices, 2013, p.95-98
2013
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  • BibTeX
Scaling of metal gate workfunction variability in nanometer SOI-FinFETs
2014 15th International Conference on Ultimate Integration on Silicon (ULIS), 2014, p.105-108
2014
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Implementation of numerical methods for nanoscaled semiconductor device simulation using OpenCL
2015 10th Spanish Conference on Electron Devices (CDE), 2015, p.1-4
2015
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Comparison of state-of-the-art distributed computing frameworks with the GWM
2015 10th Spanish Conference on Electron Devices (CDE), 2015, p.1-4
2015
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A tool to deploy nanodevice simulations on cloud
2015 10th Spanish Conference on Electron Devices (CDE), 2015, p.1-4
2015
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Variability characterisation of nanoscale Si and InGaAs FinFETs at subthreshold
2014 5th European Workshop on CMOS Variability (VARI), 2014, p.1-6
2014
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  • BibTeX
Influence of device geometry on electrical characteristics of a 10.7 nm SOI-FinFET
2014 International Workshop on Computational Electronics (IWCE), 2014, p.1-4
2014
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  • BibTeX
Static multipole method applied to boundary conditions for semiconductor device simulations
2012 International Conference on High Performance Computing & Simulation (HPCS), 2012, p.654-659
2012
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