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Refractive indices of InAlAs and InGaAs/InP from 250 to 1900 nm determined by spectroscopic ellipsometry
Applied surface science, 1992, Vol.54, p.477-481
1992
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Determination of ion beam etching damage on InP by spectroscopic ellipsometry
Applied surface science, 1991-06, Vol.50 (1), p.359-363
1991
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Determination of refractive indices of In0.53Al0.40Ga0.07As and In0.53Al0.11Ga0.36As on InP in the wavelength range from 280 to 1900 nm by spectroscopic ellipsometry
Applied surface science, 1993-03, Vol.65-66, p.442-446
1993
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Determination of the refractive index of In0.53Al0.11Ga0.36As on InP in the wavelength range from 280 to 1900 nm by spectroscopic ellipsometry
Applied surface science, 1993-05, Vol.69 (1-4), p.355-358
1993
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Determination of the refractive index of In 0.53Al 0.11Ga 0.36As on InP in the wavelength range from 280 to 1900 nm by spectroscopic ellipsometry
Applied surface science, 1993, Vol.69 (1), p.355-358
1993
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Determination of refractive indices of In 0.53Al 0.40Ga 0.07As and In 0.53Al 0.11Ga 0.36As on InP in the wavelength range from 280 to 1900 nm by spectroscopic ellipsometry
Applied surface science, 1993, Vol.65, p.442-446
1993
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Determination of refractive indices of In sub(0.53)Al sub(0.40)Ga sub(0.07)As and In sub(0.53)Al sub(0.11)Ga sub(0.36)As on InP in the wavelength range from 280 to 1900 nm by spectroscopic ellipsometry
Applied surface science, 1993-01, Vol.65-66 (1-4), p.442-446
1993
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