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Quantitative depth-profile analysis of transition metal nitride materials with combined grazing-incidence X-ray fluorescence and X-ray reflectometry analysis
Spectrochimica acta. Part B: Atomic spectroscopy, 2020-09, Vol.171, p.105926, Article 105926
2020
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Assessing advanced methods in XPS and HAXPES for determining the thicknesses of high-k oxide materials: From ultra-thin layers to deeply buried interfaces
Applied surface science, 2023-01, Vol.609, p.155317, Article 155317
2023
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Traceable Characterization of Nanomaterials by X-ray Spectrometry Using Calibrated Instrumentation
Nanomaterials (Basel, Switzerland), 2022-06, Vol.12 (13), p.2255
2022
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The 12th International Conference on Instrumental Analysis—Modern Trends and Applications (20–23 September 2021, Virtual Event)
Applied sciences, 2021-12, Vol.11 (24), p.11767
2021
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Charge Transport through Ferrocene 1,1′-Diamine Single-Molecule Junctions
Small (Weinheim an der Bergstrasse, Germany), 2016-09, Vol.12 (35), p.4849-4856
2016
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