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The Quest for High-Efficiency Thermoelectric Generators for Extracting Electricity from Waste Heat
JOM (1989), 2021-12, Vol.73 (12), p.4070-4084
2021
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Effects of Gate Stack Structural and Process Defectivity on High- k Dielectric Dependence of NBTI Reliability in 32 nm Technology Node PMOSFETs
TheScientificWorld, 2014-01, Vol.2014, p.490829-13
2014
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Research and Markets: Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors XIV
M2 Presswire, 2012
2012
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Ballistic two-dimensional InSe transistors
Nature (London), 2023-04, Vol.616 (7957), p.470-475
2023
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Performance and costs still adding up for chip industry
Electronics Weekly, 2005-04 (2190), p.1
2005
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Detection of Defects in Additively Manufactured Stainless Steel 316L with Compact Infrared Camera and Machine Learning Algorithms
JOM (1989), 2020-12, Vol.72 (12), p.4244-4253
2020
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MEDIA ADVISORY/ALERT: Synopsys Kicks Off ITC 2014 Activities with Test SIG Event Featuring Semiconductor Leaders Sharing Insights on Newest Silicon Test Technologies
PR Newswire, 2014
2014
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ITC Test Week 2000 looks at faster and smaller technologies
Semiconductor International, 2000-09, Vol.23 (11), p.123
2000
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Panelists debate concerns about reticle defects
Semiconductor International, 2001-04, Vol.24 (4), p.40
2001
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Research and Markets: Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors XIV
M2 Presswire, 2012-11-07
2012
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Meetings Calendar
JOM (1989), 2007-09, Vol.59 (9), p.73
2007
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Meetings Calendar
JOM (1989), 2007-05, Vol.59 (5), p.65
2007
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Meetings Calendar
JOM (1989), 2007-08, Vol.59 (8), p.66
2007
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Rudolph Technologies Enters Billion $ Defect Market; Acquires ISOA
PR Newswire, 2002, p.1
2002
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Meetings Calendar
JOM (1989), 2007-07, Vol.59 (7), p.91
2007
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Reticle defect review faces new demands
Semiconductor International, 2000-04, Vol.23 (4), p.46
2000
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Meetings Calendar
JOM (1989), 2007-06, Vol.59 (6), p.58
2007
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Meetings Calendar
JOM (1989), 2007-04, Vol.59 (4), p.74
2007
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Meetings Calendar
JOM (1989), 2007-03, Vol.59 (3), p.75
2007
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Promises and prospects of two-dimensional transistors
Nature (London), 2021-03, Vol.591 (7848), p.43-53
2021
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Weeding Out Immersion-Type Defects
Semiconductor International, 2007-05, Vol.30 (5), p.30
2007
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Eliminate CMP defects by eliminating CMP. (Yield Management)
Semiconductor International, 2002-04, Vol.25 (4), p.34
2002
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Global leadership in semiconductors
Nature (London), 1990-07, Vol.346 (6280), p.101-102
1990
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Synopsys Improves the Quality of Manufacturing Tests with Timing-Aware Pattern Generation: TetraMAX Small Delay Defect Test Technology Improves Test Quality vs. Existing At-Speed Test Methods
PR Newswire, 2007
2007
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Defect reduction in a high-volume fab
Semiconductor International, 2001-07, Vol.24 (8), p.159
2001
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