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IEEE journal of solid-state circuits, 2008, Vol.43 (4), p.805-814
2008
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IEEE journal of solid-state circuits, 2010, Vol.45 (4), p.830-842
2010
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IEEE journal of solid-state circuits, 2012, Vol.47 (12), p.3105-3119
2012
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IEEE journal of solid-state circuits, 2011, Vol.46 (12), p.2857-2868
2011
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IEEE journal of solid-state circuits, 2012, Vol.47 (12), p.2865-2879
2012
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19th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, 2004. DFT 2004. Proceedings, 2004, p.78-86
2004

IEEE journal of solid-state circuits, 2011, Vol.46 (12), p.2882-2891
2011
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IEEE journal of solid-state circuits, 2012, Vol.47 (4), p.875-883
2012
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IEEE journal of solid-state circuits, 2006, Vol.41 (12), p.2983-2991
2006
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IEEE journal of solid-state circuits, 2010, Vol.45 (11), p.2356-2365
2010
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