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Reliability monitoring and screening issues with ultrathin gate dielectric devices
IEEE transactions on device and materials reliability, 2001-03, Vol.1 (1), p.60-68
2001
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Advancements in scanning electron microscopes
Semiconductor international, 1997-02, Vol.20 (2), p.60-68
1997
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IP integrators seek solutions for test access and bandwidth
Electronic design, 1998-01, Vol.46 (1), p.99-106
1998
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