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2024
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IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 2024-08, p.1-1
2024
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IEEE journal of solid-state circuits, 2017-09, Vol.52 (9), p.2226-2241
2017
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IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 2023-09, Vol.42 (9), p.3118-3122
2023
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IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 2021-10, Vol.40 (10), p.2189-2193
2021
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IEEE transactions on microwave theory and techniques, 2013-08, Vol.61 (8), p.3083-3098
2013
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IEEE transactions on microwave theory and techniques, 2021-03, Vol.69 (3), p.1846-1859
2021
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IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2024-06, Vol.32 (6), p.1100-1109
2024
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IEEE transactions on microwave theory and techniques, 2018-05, Vol.66 (5), p.2463-2479
2018
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IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 2022-12, Vol.41 (12), p.5671-5680
2022
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IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 2023-09, Vol.42 (9), p.3092-3104
2023
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IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2024-08, p.1-10
2024
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IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 2022-03, Vol.41 (3), p.750-761
2022
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IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2023-03, Vol.31 (3), p.1-14
2023
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IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2021-11, Vol.29 (11), p.1861-1874
2021
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IEEE journal of solid-state circuits, 2021-04, Vol.56 (4), p.1129-1140
2021
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IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2021-08, Vol.29 (8), p.1553-1566
2021
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IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2023-09, Vol.31 (9), p.1-10
2023
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IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 2019-10, Vol.38 (10), p.1956-1968
2019
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ACM transactions on design automation of electronic systems, 2024-03, Vol.29 (3), p.1-16, Article 45
2024
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IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2018-06, Vol.26 (6), p.1073-1083
2018
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BIST-Based Fault Diagnosis for PCM With Enhanced Test Scheme and Fault-Free Region Finding Algorithm
2020
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IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 2022-11, Vol.41 (11), p.4939-4951
2022
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IEEE transactions on microwave theory and techniques, 2020-08, Vol.68 (8), p.3565-3579
2020
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IEEE transactions on instrumentation and measurement, 2021, Vol.70, p.1-9
2021
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