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1996
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Microelectronics and reliability, 2000-08, Vol.40 (8-10), p.1267-1272
2000
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1998 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings. 36th Annual (Cat. No.98CH36173), 1998, p.370-377
1998
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2000
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IEEE journal of quantum electronics, 1987-08, Vol.23 (8), p.1372-1377
1987
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1999 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings. 37th Annual (Cat. No.99CH36296), 1999, p.138-143
1999
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1996
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- Bunschoten, Carina
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2019
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Journal of the peripheral nervous system, 2018-12, Vol.23 (4), p.210-215
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- van Doorn, P.A.
- Jacobs, B.C.
- Walgaard, C.
- de Wit, M.C.Y.
- Steyerberg, E.W.
- Cornblath, D.R.
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- Doets, A.Y.
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- Breukelman, A.J.
- Bronner, I.M.
- Dieks, H.J.G.
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- van Engelen, B.G.M.
- Faber, C.G.
- Feenstra, B.
- Fokke, C.
- Garssen, M.P.J.
- Gijsbers, C.J.
- Gilhuis, H. J.
- van der Graaff, M.M.
- Groen, R.J.
- Hoogendoorn, T.A.
- Hovestad, A.
- Jansen, P.J.H.W.
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- Kleyweg, R.P.
- van Koningsveld, R.
- van der Kooi, A.J.
- van der Kooi, E.L.
- Krudde, J.
- Kuks, J.B.M.
- Kuitwaard, K.
- Linssen, W.H.J.P.
- Lion, J.
- Lovenich, H.
- Manschot, S.M.
- Mellema, S.J.
- Merkies, I.S.J.
- van der Meulen, M.F.G.
- van der Meulen, W.D.M.
- Molenaar, D.S.M.
- Oenema, D.G.
- van Oosten, B.W.
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- van Orshoven, N.P.
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- van der Pol, W.L.
- Polman, S.
- van der Ree, T.C.
- de Rijk, M.C.
- Ruitenberg, A.
- Ruts, L.
- Samijn, J.P.A.
- Schyns‐Soeterboek, A.J.G.M.
- Stevens, M.
- Vermeij, F.H.
- Verschuuren, J.J.G.M.
- Visser, L.H.
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- Wohlgemuth, M.
- Zwetsloot, C.P.
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2018
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The Journal of biological chemistry, 2012-09, Vol.287 (37), p.31471-31481
2012
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Journal of clinical microbiology, 2023-05, Vol.61 (8), p.e0083722-e0083722
2023
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The Journal of biological chemistry, 2011-02, Vol.286 (7), p.5359-5367
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European addiction research, 2024-02, Vol.30 (1), p.52-64
2024
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Acta orthopaedica, 2024-06, Vol.95, p.298-306
2024
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Rheumatology (Oxford, England), 2023-08, Vol.62 (8), p.2732-2739
2023
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Transplantation, 2023-10, Vol.107 (10S2), p.115-116
2023
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BMJ open, 2018-11, Vol.8 (11), p.e022182-e022182
2018
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Journal of neuropathology and experimental neurology, 2003-07, Vol.62 (7), p.780-790
2003
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Journal of clinical medicine, 2020-10, Vol.9 (10), p.3374
2020
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Microelectronics and reliability, 1996-11, Vol.36 (11-12), p.1819-1822
1996
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Proceedings of International Reliability Physics Symposium, 1996, p.17-21
1996
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