Sie befinden Sich nicht im Netzwerk der Universität Paderborn. Der Zugriff auf elektronische Ressourcen ist gegebenenfalls nur via VPN oder Shibboleth (DFN-AAI) möglich. mehr Informationen...
Sortiert nach
Einfacher Volltextzugriff von (fast) überall
Installieren Sie die LibKey Nomad-Browsererweiterung und erhalten Sie von vielen Webseiten einfachen Zugriff auf lizenzierte Volltexte oder Open Access Publikationen. Mehr erfahren...
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Dependence of interface-state generation on field polarity in metal-oxide-silicon devices of various thicknesses and technologies
Journal of physics. D, Applied physics, 1999-07, Vol.32 (13), p.1435-1442
1999
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Investigation of the electrical degradation of a metal–oxide–silicon capacitor by scanning thermal microscopy
Solid-state electronics, 2003-05, Vol.47 (5), p.919-922
2003
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Relaxation of positive charge during bidirectional electric stress on metal–oxide–silicon capacitors
Journal of applied physics, 1999-12, Vol.86 (11), p.6234-6238
1999
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Positive charge instability during bidirectional stress on metal–oxide–silicon capacitors
Journal of applied physics, 2000-12, Vol.88 (11), p.6589-6593
2000
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Electric bidirectional stress effects on metal–oxide–silicon capacitors
Journal of applied physics, 2001-01, Vol.89 (2), p.1405-1410
2001
Volltextzugriff (PDF)
Open Access
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Bidirectional stress on a p-metal–oxide–silicon capacitor
Journal of applied physics, 1999-05, Vol.85 (9), p.6593-6597
1999
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Impact of the band–band tunneling in silicon on electrical characteristics of Al/SiO 2/p +-Si structures with the sub-3 nm oxide under positive bias
Solid-state electronics, 2003, Vol.47 (4), p.617-620
2003
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Impact of the band–band tunneling in silicon on electrical characteristics of Al/SiO2/p+-Si structures with the sub-3 nm oxide under positive bias
Solid-state electronics, 2003-04, Vol.47 (4), p.617-620
2003
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
The image force effect on the barrier height in MOS structures: correlation of the corrected barrier height with temperature and the oxide thickness
Microelectronics and reliability, 2000-04, Vol.40 (4-5), p.763-766
2000
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Heat transfers through mechanically-stimulated particle beds
Applied energy, 1993, Vol.46 (4), p.349-366
1993
Volltextzugriff (PDF)
1 – 10 von 10
Suche als RSS-Feed
Suchergebnisse filtern
Filter anzeigen