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Open Access
Hardness-Aware Deep Metric Learning
IEEE transactions on pattern analysis and machine intelligence, 2021-09, Vol.43 (9), p.3214-3228
2021
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IEEE transactions on pattern analysis and machine intelligence, 2023-07, Vol.45 (7), p.8265-8283
2023
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Deep Adversarial Metric Learning
2018 IEEE/CVF Conference on Computer Vision and Pattern Recognition, 2018, p.2780-2789
2018
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Open Access
Hardness-Aware Deep Metric Learning
2019 IEEE/CVF Conference on Computer Vision and Pattern Recognition (CVPR), 2019, p.72-81
2019
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Deep Adversarial Metric Learning
IEEE transactions on image processing, 2020, Vol.29 (1), p.2037-2051
2020
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Pattern recognition, 2024-08, p.110878, Article 110878
2024
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IEEE transactions on image processing, 2024, Vol.33, p.3692-3706
2024
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IEEE transactions on circuits and systems for video technology, 2024-04, Vol.34 (4), p.2439-2452
2024
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IEEE transactions on multimedia, 2024, p.1-12
2024
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Deep Compositional Metric Learning
2021 IEEE/CVF Conference on Computer Vision and Pattern Recognition (CVPR), 2021, p.9316-9325
2021
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Open Access
Deep Relational Metric Learning
2021 IEEE/CVF International Conference on Computer Vision (ICCV), 2021, p.12045-12054
2021
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2023 IEEE/CVF Conference on Computer Vision and Pattern Recognition (CVPR), 2023, p.9223-9232
2023
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2020 IEEE/CVF Conference on Computer Vision and Pattern Recognition (CVPR), 2020, p.2957-2966
2020
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Deep Factorized Metric Learning
2023 IEEE/CVF Conference on Computer Vision and Pattern Recognition (CVPR), 2023, p.7672-7682
2023
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2022 IEEE/CVF Conference on Computer Vision and Pattern Recognition (CVPR), 2022, p.7522-7531
2022
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2022 IEEE/CVF Conference on Computer Vision and Pattern Recognition (CVPR), 2022, p.1579-1588
2022
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Computer Vision - ECCV 2020, 2020, Vol.12363, p.735-751
2020
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PLoS pathogens, 2020-07, Vol.16 (7), p.e1008664-e1008664
2020
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Remote sensing of environment, 2023-03, Vol.287, p.113485, Article 113485
2023
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