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Installieren Sie die LibKey Nomad-Browsererweiterung und erhalten Sie von vielen Webseiten einfachen Zugriff auf lizenzierte Volltexte oder Open Access Publikationen. Mehr erfahren...IEEE journal of solid-state circuits, 2003-03, Vol.38 (3), p.419-426
2003
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Proceedings of the IEEE 2002 Custom Integrated Circuits Conference (Cat. No.02CH37285), 2002, p.217-220
2002
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IBM journal of research and development, 2018-03, Vol.62 (2/3), p.1-1
2018
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2011 International Electron Devices Meeting, 2011, p.25.3.1-25.3.4
2011
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IEEE journal of solid-state circuits, 2003-08, Vol.38 (8), p.1333-1342
2003
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2023 35th International Conference on Microelectronic Test Structure (ICMTS), 2023, p.1-3
2023
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RLE progress report, 1997 (140), p.145-153
1997
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IEEE transactions on microwave theory and techniques, 2003-08, Vol.51 (8), p.1952-1959
2003
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2016 IEEE Symposium on VLSI Technology, 2016, p.1-2
- Adusumilli, P.
- Alptekin, E.
- Raymond, M.
- Breil, N.
- Chafik, F.
- Lavoie, C.
- Ferrer, D.
- Jain, S.
- Kamineni, V.
- Ozcan, A.
- Allen, S.
- An, J. J.
- Basker, V.
- Bolam, R.
- Bu, H.
- Cai, J.
- Demarest, J.
- Doris, B.
- Engbrecht, E.
- Fan, S.
- Fronheiser, J.
- Gluschenkov, O.
- Guo, D.
- Haran, B.
- Hilscher, D.
- Jagannathan, H.
- Kang, D.
- Ke, Y.
- Kim, J.
- Koswatta, S.
- Kumar, A.
- Labonte, A.
- Lallement, R.
- Lee, W.
- Lee, Y.
- Li, J.
- Lin, C.-H
- Liu, B.
- Liu, Z.
- Loubet, N.
- Makela, N.
- Mochizuki, S.
- Morgenfeld, B.
- Narasimha, S.
- Nesheiwat, T.
- Niimi, H.
- Niu, C.
- Oh, M.
- Park, C.
- Ramachandran, R.
- Rice, J.
- Sardesai, V.
- Shearer, J.
- Sheraw, C.
- Tran, C.
- Tsutsui, G.
- Utomo, H.
- Wong, K.
- Xie, R.
- Yamashita, T.
- Yan, Y.
- Yeh, C.
- Yu, M.
- Zamdmer, N.
- Zhan, N.
- Zhang, B.
- Paruchuri, V.
- Goldberg, C.
- Kleemeier, W.
- Stiffler, S.
- Divakaruni, R.
- Henson, W.
2016
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2007 IEEE Symposium on VLSI Technology, 2007, p.54-55
2007
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2006 Symposium on VLSI Technology, 2006. Digest of Technical Papers, 2006, p.170-171
2006
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Digest of Technical Papers. 2005 Symposium on VLSI Technology, 2005, 2005, p.126-127
- Leobandung, E.
- Nayakama, H.
- Mocuta, D.
- Miyamoto, K.
- Angyal, M.
- Meer, H.V.
- McStay, K.
- Ahsan, I.
- Allen, S.
- Azuma, A.
- Belyansky, M.
- Bentum, R.-V.
- Cheng, J.
- Chidambarrao, D.
- Dirahoui, B.
- Fukasawa, M.
- Gerhardt, M.
- Gribelyuk, M.
- Halle, S.
- Harifuchi, H.
- Harmon, D.
- Heaps-Nelson, J.
- Hichri, H.
- Ida, K.
- Inohara, M.
- Inouc, I.C.
- Jenkins, K.
- Kawamura, T.
- Kim, B.
- Ku, S.-K.
- Kumar, M.
- Lane, S.
- Liebmann, L.
- Logan, R.
- Melville, I.
- Miyashita, K.
- Mocuta, A.
- O'Neil, P.
- Ng, M.-F.
- Nogami, T.
- Nomura, A.
- Norris, C.
- Nowak, E.
- Ono, M.
- Panda, S.
- Penny, C.
- Radens, C.
- Ramachandran, R.
- Ray, A.
- Rhee, S.-H.
- Ryan, D.
- Shinohara, T.
- Sudo, G.
- Sugaya, F.
- Strane, J.
- Tan, Y.
- Tsou, L.
- Wang, L.
- Wirbeleit, F.
- Wu, S.
- Yamashita, T.
- Yan, H.
- Ye, Q.
- Yoneyama, D.
- Zamdmer, D.
- Zhong, H.
- Zhu, H.
- Zhu, W.
- Agnello, P.
- Bukofsky, S.
- Bronner, G.
- Crabbe, E.
- Freeman, G.
- Huang, S.-F.
- Ivers, T.
- Kuroda, H.
- McHerron, D.
- Pellerin, J.
- Toyoshima, Y.
- Subbanna, S.
- Kepler, N.
- Su, L.
2005
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2009 Symposium on VLSI Technology, 2009, p.152-153
2009
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2015 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2015, p.20.2.1-20.2.4
2015
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2011 Symposium on VLSI Technology - Digest of Technical Papers, 2011, p.128-129
- Cheng, K.
- Khakifirooz, A.
- Kulkarni, P.
- Ponoth, S.
- Haran, B.
- Kumar, A.
- Adam, T.
- Reznicek, A.
- Loubet, N.
- He, H.
- Kuss, J.
- Wang, M.
- Levin, T. M.
- Monsieur, F.
- Liu, Q.
- Sreenivasan, R.
- Cai, J.
- Kimball, A.
- Mehta, S.
- Luning, S.
- Zhu, Y.
- Zhu, Z.
- Yamamoto, T.
- Bryant, A.
- Lin, C.
- Naczas, S.
- Jagannathan, H.
- Edge, L. F.
- Allegret-Maret, S.
- Dube, A.
- Kanakasabapathy, S.
- Schmitz, S.
- Inada, A.
- Seo, S.
- Raymond, M.
- Zhang, Z.
- Yagishita, A.
- Demarest, J.
- Li, J.
- Hopstaken, M.
- Berliner, N.
- Upham, A.
- Johnson, R.
- Holmes, S.
- Standaert, T.
- Smalley, M.
- Zamdmer, N.
- Ren, Z.
- Wu, T.
- Bu, H.
- Paruchuri, V.
- Sadana, D.
- Narayanan, V.
- Haensch, W.
- O'Neill, J.
- Hook, T.
- Khare, M.
- Doris, B.
2011
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IBM journal of research and development, 2003-09, Vol.47 (5.6), p.611-629
2003
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2007 IEEE/SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference, 2007, p.218-222
2007
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International journal of high speed electronics, 2003-03, Vol.13 (1), p.175-219
2003
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2014 IEEE International Electron Devices Meeting, 2014, p.3.8.1-3.8.3
- Lin, C.-H
- Greene, B.
- Narasimha, S.
- Cai, J.
- Bryant, A.
- Radens, C.
- Narayanan, V.
- Linder, B.
- Ho, H.
- Aiyar, A.
- Alptekin, E.
- An, J.-J
- Aquilino, M.
- Bao, R.
- Basker, V.
- Breil, N.
- Brodsky, M.
- Chang, W.
- Clevenger, L.
- Chidambarrao, D.
- Christiansen, C.
- Conklin, D.
- DeWan, C.
- Dong, H.
- Economikos, L.
- Engel, B.
- Fang, S.
- Ferrer, D.
- Friedman, A.
- Gabor, A.
- Guarin, F.
- Guan, X.
- Hasanuzzaman, M.
- Hong, J.
- Hoyos, D.
- Jagannathan, B.
- Jain, S.
- Jeng, S.-J
- Johnson, J.
- Kannan, B.
- Ke, Y.
- Khan, B.
- Kim, B.
- Koswatta, S.
- Kumar, A.
- Kwon, T.
- Kwon, U.
- Lanzerotti, L.
- Lee, H.-K
- Lee, W.-H
- Levesque, A.
- Li, W.
- Li, Z.
- Liu, W.
- Mahajan, S.
- McStay, K.
- Nayfeh, H.
- Nicoll, W.
- Northrop, G.
- Ogino, A.
- Pei, C.
- Polvino, S.
- Ramachandran, R.
- Ren, Z.
- Robison, R.
- Saraf, I.
- Sardesai, V.
- Saudari, S.
- Schepis, D.
- Sheraw, C.
- Siddiqui, S.
- Song, L.
- Stein, K.
- Tran, C.
- Utomo, H.
- Vega, R.
- Wang, G.
- Wang, H.
- Wang, W.
- Wang, X.
- Wehelle-Gamage, D.
- Woodard, E.
- Xu, Y.
- Yang, Y.
- Zhan, N.
- Zhao, K.
- Zhu, C.
- Boyd, K.
- Engbrecht, E.
- Henson, K.
- Kaste, E.
- Krishnan, S.
- Maciejewski, E.
- Shang, H.
- Zamdmer, N.
- Divakaruni, R.
- Rice, J.
- Stiffler, S.
- Agnello, P.
2014
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2011 Symposium on VLSI Circuits - Digest of Technical Papers, 2011, p.128-129
- Cheng, K.
- Khakifirooz, A.
- Kulkarni, P.
- Ponoth, S.
- Haran, B.
- Kumar, A.
- Adam, T.
- Reznicek, A.
- Loubet, N.
- He, H.
- Kuss, J.
- Wang, M.
- Levin, T. M.
- Monsieur, F.
- Liu, Q.
- Sreenivasan, R.
- Cai, J.
- Kimball, A.
- Mehta, S.
- Luning, S.
- Zhu, Y.
- Zhu, Z.
- Yamamoto, T.
- Bryant, A.
- Lin, C.
- Naczas, S.
- Jagannathan, H.
- Edge, L. F.
- Allegret-Maret, S.
- Dube, A.
- Kanakasabapathy, S.
- Schmitz, S.
- Inada, A.
- Seo, S.
- Raymond, M.
- Zhang, Z.
- Yagishita, A.
- Demarest, J.
- Li, J.
- Hopstaken, M.
- Berliner, N.
- Upham, A.
- Johnson, R.
- Holmes, S.
- Standaert, T.
- Smalley, M.
- Zamdmer, N.
- Ren, Z.
- Wu, T.
- Bu, H.
- Paruchuri, V.
- Sadana, D.
- Narayanan, V.
- Haensch, W.
- O'Neill, J.
- Hook, T.
- Khare, M.
- Doris, B.
2011
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Proceedings of the 28th European Solid-State Circuits Conference, 2002, p.811-814
2002
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International Electron Devices Meeting. Technical Digest (Cat. No.01CH37224), 2001, p.29.2.1-29.2.4
2001
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