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2003
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Applied surface science, 2003-03, Vol.208, p.189-193
2003
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Applied surface science, 2003-03, Vol.208, p.277-284
2003
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A spectroscopic ellipsometry investigation of RF-sputtered crystalline vanadium pentoxide thin films
2008
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Thin solid films, 1999-01, Vol.337 (1), p.133-136
1999
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Journal de Physique IV (Proceedings), 2003, Vol.108, p.71-74
2003
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Single-Shot Excimer Laser Annealing and In Process Ellipsometry Analysis for Ultra Shallow Junctions
2002
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MRS proceedings, 2003, Vol.765, Article D7.3
2003
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Thin solid films, 1993-10, Vol.234 (1-2), p.412-415
1993
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SID International Symposium Digest of technical papers, 1999-05, Vol.30 (1), p.290-293
1999
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SID International Symposium Digest of technical papers, 1999-05, Vol.30 (1), p.298-301
1999
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Annales de physique (Paris), 1997-02, Vol.22, p.C1-C1-31
1997
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9th International Conference on Advanced Thermal Processing of Semiconductors, RTP 2001, 2001, p.146-147
2001
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MRS proceedings, 2001, Vol.685, Article D7.1.1
2001
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Thin solid films, 1993, Vol.234 (1-2), p.412-415
1993
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Extended Abstracts of the Second International Workshop on Junction Technology. IWJT. (IEEE Cat.No.01EX541C), 2001, p.91-94
2001
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Laser focus world, 1999, Vol.35 (7), p.131-136
1999
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Arabesques, 2018-07 (90), p.12-13
2018
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Zeszyty naukowe Uniwersytetu Jagiellońskiego. Prace historyczne, 2015-10, Vol.142 (4), p.699
2015
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338 Rate of Change in Serial Myocardial Perfusion Results in Patients Awaiting Renal Transplantation
2012
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- Biłos, Piotr
- Bujnicki, Tadeusz
- Delaperrière, Maria
- Fiszer, Stanisław
- Fiut, Aleksander
- Furman-Bouvard, Marie
- Gloger, Maciej
- Koziołek, Ryszard
- Masłowski, Michel
- Mokranowska, Zdzisława
- Siatkowska-Callebat, Kinga
- Sienkiewicz, Henryk
- Sztachelska, Jolanta
- Tomaszewski, Marek
- Vandenborre, Katia
- Zahorski, Witold
- Ziejka, Franciszek
2018
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Revue des études slaves, 2004-01, Vol.75 (2), p.363-369
2004
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2000
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Revue des Études Slaves, 2004, Vol.75 (2), p.363-369
2004
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Annales historiques de la Révolution française, 1981-10, Vol.53 (246), p.572-598
1981
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