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Digest of Papers. 1992 IEEE VLSI Test Symposium, 1992, p.1-6
1992
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Journal of physical chemistry. C, 2017-06, Vol.121 (21), p.11824-11830
2017
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Chinese journal of cancer research, 1997-12, Vol.9 (4), p.254-257
1997
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Proceedings International Test Conference 1996. Test and Design Validity, 1996, p.48-57
1996
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2008 IEEE International SOC Conference, 2008, p.55-58
2008
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IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2011-04, Vol.19 (4), p.629-637
2011
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Proceedings Sixth Asian Test Symposium (ATS'97), 1997, p.398-403
1997
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Discrete Applied Mathematics, 2017-07, Vol.225, p.114-121
2017
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Science China. Mathematics, 2018-03, Vol.61 (3), p.577-592
2018
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IEEE transactions on circuits and systems for video technology, 2023-11, Vol.33 (11), p.1-1
2023
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Proceedings of the 2002 IEEE International Workshop on Memory Technology, Design and Testing (MTDT2002), 2002, p.83-87
2002
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19th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, 2004. DFT 2004. Proceedings, 2004, p.120-128
2004
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