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Installieren Sie die LibKey Nomad-Browsererweiterung und erhalten Sie von vielen Webseiten einfachen Zugriff auf lizenzierte Volltexte oder Open Access Publikationen. Mehr erfahren...Neuroscience, 2013-01, Vol.228, p.1-12
2013
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European review for medical and pharmacological sciences, 2016, Vol.20 (3), p.399
2016
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Plant cell reports, 2013-08, Vol.32 (8), p.1309-1320
2013
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Journal of economic entomology, 2016-02, Vol.109 (1), p.327-333
2016
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Clinical radiology, 2014-06, Vol.69 (6), p.567-573
2014
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Anaesthesia, 2013-04, Vol.68 (4), p.391-399
2013
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Diseases of the esophagus, 2011-07, Vol.24 (5), p.346-353
2011
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Weed research, 2013-10, Vol.53 (5), p.314-321
2013
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Materials letters, 2016-02, Vol.164, p.202-205
2016
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Journal of physics. Conference series, 2019-12, Vol.1423 (1), p.12033
2019
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2022 IEEE Symposium on VLSI Technology and Circuits (VLSI Technology and Circuits), 2022, p.399-400
2022
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Genetics and molecular research, 2016-06, Vol.15 (2)
2016
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2022 International Electron Devices Meeting (IEDM), 2022, p.20.2.1-20.2.4
2022
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2022 International Electron Devices Meeting (IEDM), 2022, p.20.5.1-20.5.4
- Yu, X.-R.
- Chuang, M.-H.
- Chang, S.-W.
- Chang, W.-H.
- Hong, T.-C.
- Chiang, C.-H.
- Lu, W.-H.
- Yang, C.-Y.
- Chen, W.-J.
- Lin, J.-H.
- Wu, P.-H.
- Sun, T.-C.
- Kola, S.
- Yang, Y.-S.
- Da, Yun
- Sung, P.-J.
- Wu, C.-T.
- Cho, T.-C.
- Luo, G.-L.
- Kao, K.-H.
- Chiang, M.-H.
- Ma, W. C.-Y.
- Su, C.-J.
- Chao, T.-S.
- Maeda, T.
- Samukawa, S.
- Li, Y.
- Lee, Y.-J.
- Wu, W.-F.
- Tarng, J.-H.
- Wang, Y.-H.
2022
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2021 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2021, p.34.4.1-34.4.4
- Chang, S.-W.
- Lu, T.-H.
- Yang, C.-Y.
- Yeh, C.-J.
- Huang, M.-K.
- Meng, C.-F.
- Chen, P.-J.
- Chang, T.-H.
- Chang, Y.-S.
- Jhu, J.-W.
- Hong, T.-Z.
- Ke, C.-C.
- Yu, X.-R.
- Lu, W.-H.
- Baig, M. A.
- Cho, T.-C.
- Sung, P.-J.
- Su, C.-J.
- Hsueh, F.-K.
- Chen, B.-Y.
- Hu, H.-H.
- Wu, C.-T.
- Lin, K.-L.
- Ma, W. C.-Y.
- Lu, D.-D.
- Kao, K.-H.
- Lee, Y.-J.
- Lin, C.-L.
- Huang, K.-P.
- Chen, K.-M.
- Li, Y.
- Samukawa, S.
- Chao, T.-S.
- Huang, G.-W.
- Wu, W.-F.
- Lee, W.-H.
- Li, J.-Y.
- Shieh, J.-M.
- Tarng, J.-H.
- Wang, Y.-H.
- Yeh, W.-K.
2021
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2023 International Electron Devices Meeting (IEDM), 2023, p.1-4
2023
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2020 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2020, p.15.5.1-15.5.4
- Hong, T.-Z.
- Chang, W.-H.
- Agarwal, A.
- Huang, Y.-T.
- Yang, C.-Y.
- Chu, T.-Y.
- Chao, H.-Y.
- Chuang, Y.
- Chung, S.-T.
- Lin, J.-H.
- Luo, S.-M.
- Tsai, C.-J.
- Li, M.-J.
- Yu, X.-R.
- Lin, N.-C.
- Cho, T.-C.
- Sung, P.-J.
- Su, C.-J.
- Luo, G.-L.
- Hsueh, F.-K.
- Lin, K.-L.
- Ishii, H.
- Irisawa, T.
- Maeda, T.
- Wu, C.-T.
- Ma, W. C.-Y.
- Lu, D.-D.
- Kao, K.-H.
- Lee, Y.-J.
- Chen, H. J.-H.
- Lin, C.-L.
- Chuang, R. W.
- Huang, K.-P.
- Samukawa, S.
- Li, Y.-M.
- Tarng, J.-H.
- Chao, T.-S.
- Miura, M.
- Huang, G.-W.
- Wu, W.-F.
- Li, J.-Y.
- Shieh, J.-M.
- Wang, Y.-H.
- Yeh, W.-K.
2020
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Journal of aircraft, 2003-05, Vol.40 (3), p.600-603
2003
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Computer modeling in engineering & sciences, 2004-12, Vol.6 (6), p.567-576
2004
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Materials science forum, 2011-09, Vol.697-698, p.107-111
2011
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Radiation protection dosimetry, 2001-01, Vol.93 (3), p.261-266
2001
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Key engineering materials, 2011-01, Vol.487, p.54-57
2011
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