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2009 IEEE International Conference on Communications, 2009, p.1-5
2009
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Solid-state electronics, 1970-02, Vol.13 (2), p.239-247
1970
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Solid-state electronics, 1970-02, Vol.13 (2), p.97-104
1970
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Solid-state electronics, 1969-01, Vol.12 (3), p.155-160
1969
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1969 International Electron Devices Meeting, 1969, p.140-140
1969
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h FE falloff at low temperatures
IEEE transactions on electron devices, 1971-12, Vol.18 (12), p.1146-1148
1971
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hFEfalloff at low temperatures
IEEE transactions on electron devices, 1971-12, Vol.18 (12), p.1146-1148
1971
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Microprocessor technology trends
Proceedings of the IEEE, 1986-12, Vol.74 (12), p.1605-1622
1986
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Ohmic contacts to GaAs
1970 International Electron Devices Meeting, 1970, p.148-148
1970
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Ohmic contacts to epitaxial pGaAs
Solid-state electronics, 1971-01, Vol.14 (6), p.515-517
1971
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IEEE transactions on nuclear science, 1969-01, Vol.16 (6), p.220-226
1969
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The Science of the total environment, 2009-06, Vol.407 (12), p.3793-3802
2009
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Journal of hazardous materials, 2009-08, Vol.167 (1), p.1163-1169
2009
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Microprocessors circa 2000
IEEE spectrum, 1989-10, Vol.26 (10), p.43-47
1989
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Robotics and computer-integrated manufacturing, 2024-10, Vol.89, p.102758, Article 102758
2024
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Chemosphere (Oxford), 2009-05, Vol.75 (5), p.654-660
2009
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Journal of hazardous materials, 2009-11, Vol.171 (1-3), p.452-458
2009
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Proceedings of the 22nd Annual International Conference of the IEEE Engineering in Medicine and Biology Society (Cat. No.00CH37143), 2000, Vol.4, p.2431-2432 vol.4
2000
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