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Micromachines (Basel), 2021-09, Vol.12 (10), p.1145
2021
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JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE, 2017, 17(1), 73, pp.94-100
2017
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JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE, 2014, 14(5), 59, pp.503-507
2014
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2000 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings. 38th Annual (Cat. No.00CH37059), 2000, p.164-168
2000
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ICMTS 2000. Proceedings of the 2000 International Conference on Microelectronic Test Structures (Cat. No.00CH37095), 2000, p.102-105
2000
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1986 International Electron Devices Meeting, 1986, p.588-591
1986
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