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Analytical modeling of polycrystalline silicon emitter bipolar transistors under high-level injection
Solid-state electronics, 1994-08, Vol.37 (8), p.1521-1529
1994
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Effect of interfacial oxide on static and high-frequency performance in poly-emitter bipolar transistors under high-level injection
Japanese Journal of Applied Physics, 1994, Vol.33 (5A), p.2487-2493
1994
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Temperature Influence on the Generalized Einstein Relation for Degenerate Semiconductors with Arbitrary Band Structures
Japanese Journal of Applied Physics, 1994-05, Vol.33 (5A), p.2619-2625, Article 2619
1994
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High-level injection influence on the high frequency performance of polycrystalline silicon emitter bipolar transistors
Solid-state electronics, 1994-08, Vol.37 (8), p.1531-1536
1994
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Welcome from the Chairmen
2007 IEEE Bipolar/BiCMOS Circuits and Technology Meeting, 2007, p.iii-iii
2007
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2007 IEEE Bipolar/BiCMOS Circuits and Technology Meeting (BCTM) in Boston, September 30 to October 2, Dr. Tak H. Ning to Deliver Keynote Address
Solid-state circuits newsletter, 2007-07, Vol.12 (3), p.33-33
2007
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Effect of Ge Concentration on Static and Microwave Performances in Ge x Si 1-x Heterojunction Bipolar Transistors under High-Level Injection
Japanese Journal of Applied Physics, 1994-04, Vol.33 (4R), p.1803
1994
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HIgh-level injetion influence on the high frequency performance of polycrystalline silicon emitter bipolar transistors
Solid-state electronics, 1994, Vol.37 (8), p.1531-1536
1994
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A 50-GHz 0.25-/spl mu/m implanted-base high-energy implanted-collector complementary modular BiCMOS (HEICBiC) technology for low-power wireless communication VLSIs
Proceedings of the 1998 Bipolar/BiCMOS Circuits and Technology Meeting (Cat. No.98CH36198), 1998, p.128-131
1998
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A 50-GHz 0.25-/spl mu/m high-energy implanted BiCMOS (HEIBiC) technology for Low-Power high-integration wireless-communication systems
1998 Symposium on VLSI Technology Digest of Technical Papers (Cat. No.98CH36216), 1998, p.92-93
1998
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A 0.16 /spl mu/m modular BiCMOS (COM2-BiCMOS) technology for RF communication ICs
International Electron Devices Meeting 1999. Technical Digest (Cat. No.99CH36318), 1999, p.857-860
1999
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Oxidation of dichlorvos by UV/hydrogen peroxide process
Fresenius environmental bulletin, 2005-01, Vol.14 (3), p.199-203
2005
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