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2013
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IEEE transactions on electron devices, 2013-01, Vol.60 (1), p.56-62
2013
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ACS applied materials & interfaces, 2020-01, Vol.12 (1), p.1036-1045
2020
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ACS sensors, 2023-10, Vol.8 (10), p.3873-3881
2023
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ACS sensors, 2023-10, Vol.8 (10), p.3873-3881
2023
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Journal of vacuum science and technology. B, Nanotechnology & microelectronics, 2016-01, Vol.34 (1)
2016
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2022 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2022, p.P49-1-P49-4
2022
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ECS transactions, 2018-07, Vol.86 (3), p.55-64
2018
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2017 IEEE International Memory Workshop (IMW), 2017, p.1-4
2017
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ECS transactions, 2015-09, Vol.69 (5), p.169-181
2015
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IEEE transactions on electron devices, 2013-01, Vol.60 (1), p.56-62
2013
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Semiconductors (Woodbury, N.Y.), 2013-05, Vol.47 (5), p.686-694
2013
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2020 IEEE International Interconnect Technology Conference (IITC), 2020, p.43-45
2020
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2021 IEEE International Interconnect Technology Conference (IITC), 2021, p.1-2
2021
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2020 IEEE International Interconnect Technology Conference (IITC), 2020, p.61-63
2020
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Meeting abstracts (Electrochemical Society), 2018-07, Vol.MA2018-02 (18), p.749-749
2018
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2019 Electron Devices Technology and Manufacturing Conference (EDTM), 2019, p.294-296
2019
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Meeting abstracts (Electrochemical Society), 2015-07, Vol.MA2015-02 (18), p.830-830
2015
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