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Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics: 2007 (AIP Conference Proceedings Volume 931), 2007, Vol.931, p.261-264
2007
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The Fourth International Workshop on Junction Technology, 2004. IWJT '04, 2004, p.98-101
2004
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2007 International Workshop on Junction Technology, 2007, p.47-48
2007
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Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures, 2000-01, Vol.18 (1), p.389-392
2000
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Ion Implantation Technology. 2002. Proceedings of the 14th International Conference on, 2002, p.29-32
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Analyst (London), 2012-05, Vol.137 (10), p.2328-2332
2012
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2019 IEEE International Conference on Big Data (Big Data), 2019, p.3216-3221
2019
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Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures, 2004-01, Vol.22 (1), p.450-454
2004
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Asian journal of Mycology, 2023-12, p.89-243
2023
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MRS proceedings, 2005, Vol.864, Article E9.28
2005
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