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IEEE transactions on electron devices, 2013-04, Vol.60 (4), p.1384-1389
2013
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2014 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 2014, p.842-845
2014
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2018 Non-Volatile Memory Technology Symposium (NVMTS), 2018, p.1-4
2018
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2018 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2018, p.P-MY.4-1-P-MY.4-5
2018
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2018 48th European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC), 2018, p.46-49
2018
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2017 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2017, p.5A-4.1-5A-4.6
2017
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2020 International Symposium on VLSI Design, Automation and Test (VLSI-DAT), 2020, p.1-1
2020
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2020 International Symposium on VLSI Technology, Systems and Applications (VLSI-TSA), 2020, p.22-22
2020
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2017 47th European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC), 2017, p.10-13
2017
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2020 International Symposium on VLSI Technology, Systems and Applications (VLSI-TSA), 2020, p.35-36
2020
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