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Japanese Journal of Applied Physics, 2019-04, Vol.58 (SB), p.SBBB12
2019
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Japanese Journal of Applied Physics, 2009-04, Vol.48 (4R), p.43001
2009
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2009
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2015
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IEICE Electronics Express, 2020, Vol.17 (5), p.20200032-20200032
2020
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Electronics letters, 2011-09, Vol.47 (18), p.1027-1029
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2016 International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), 2016, p.136-141
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2014 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), 2014, p.305-308
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Japanese Journal of Applied Physics, 2010-09, Vol.49 (9), p.090204-090204-3
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Japanese Journal of Applied Physics, 2002-12, Vol.41 (Part 2, No. 12B), p.L1492-L1494
2002
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