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Tracking sub-nanometer thermal structural changes with speckle interferometry
Applied optics (2004), 2020-08, Vol.59 (22), p.G204-G208
2020
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Sub-Picometer Dynamic Measurements of a Diffuse Surface
Applied optics (2004), 2019-04, Vol.58 (12), p.3156-3165
2019
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Open Access
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Improved vertical-scanning interferometry
Applied Optics, 2000-05, Vol.39 (13), p.2107-2115
2000
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Fringe modulation skewing effect in white-light vertical scanning interferometry
Applied Optics, 2000-05, Vol.39 (13), p.2101-2106
2000
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Computerized interferometric surface measurements [Invited]
Applied optics (2004), 2013-01, Vol.52 (1), p.1-8
2013
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Absolute testing of flats by using even and odd functions
Applied Optics, 1993-09, Vol.32 (25), p.4698-4705
1993
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Vibration insensitive extended range interference microscopy
Applied optics (2004), 2013-08, Vol.52 (24), p.5957-5961
2013
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Phase shifter calibration in phase-shifting interferometry
Applied Optics, 1985-09, Vol.24 (18), p.3049-3049
1985
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Offset of coherent envelope position due to phase change on reflection
Applied Optics, 2001-05, Vol.40 (13), p.2102-2106
2001
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Effect of piezoelectric transducer nonlinearity on phase shift interferometry
Applied Optics, 1987-03, Vol.26 (6), p.1112-1116
1987
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Absolute measurement of surface roughness
Applied Optics, 1990-09, Vol.29 (26), p.3823-3827
1990
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Double Frequency Grating Lateral Shear Interferometer
Applied Optics, 1973-09, Vol.12 (9), p.2057
1973
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Testing spherical surfaces: a fast, quasi-absolute technique
Applied Optics, 1992-08, Vol.31 (22), p.4350-4354
1992
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Multiple-wavelength phase-shifting interferometry
Applied Optics, 1985-03, Vol.24 (6), p.804-804
1985
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Measurement of surface topography of magnetic tapes by Mirau interferometry
Applied Optics, 1985-05, Vol.24 (10), p.1489-1489
1985
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  • BibTeX
Large field of view, high spatial resolution, surface measurements
International journal of machine tools & manufacture, 1998-05, Vol.38 (5), p.691-698
1998
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  • BibTeX
Testing an optical window of a small wedge angle: effect of multiple reflections
Applied Optics, 1993-09, Vol.32 (25), p.4904-4912
1993
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Two-wavelength phase shifting interferometry
Applied Optics, 1984-12, Vol.23 (24), p.4539-4539
1984
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  • BibTeX
Effect of retroreflection on a Fizeau phase-shifting interferometer
Applied Optics, 1993-07, Vol.32 (19), p.3470-3478
1993
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  • BibTeX
Use of an ac heterodyne lateral shear interferometer with real-time wavefront correction systems
Applied Optics, 1975-11, Vol.14 (11), p.2622-2626
1975
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  • BibTeX
Effect of spurious reflection on phase shift interferometry
Applied Optics, 1988-07, Vol.27 (14), p.3039-3045
1988
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  • BibTeX
Testing aspherics using two-wavelength holography
Applied Optics, 1971-09, Vol.10 (9), p.2113
1971
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  • BibTeX
Using computer generated holograms to test aspheric wavefronts
Applied Optics, 1972-12, Vol.11 (12), p.2833-2839
1972
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  • BibTeX
Evaluation of large aberrations using a lateral-shear interferometer having variable shear
Applied Optics, 1975-01, Vol.14 (1), p.142-150
1975
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  • BibTeX
Testing aspherics using two-wavelength holography: use of digital electronic techniques
Applied Optics, 1984-11, Vol.23 (22), p.4020-4020
1984
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