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Sensors and actuators. A. Physical., 2005-05, Vol.121 (1), p.113-120
2005
Volltextzugriff (PDF)

Quality assurance and safety of crops & food, 2015-01, Vol.7 (2), p.133-139
2015
Volltextzugriff (PDF)

Agricultural water management, 2011-02, Vol.98 (4), p.632-638
2011
Volltextzugriff (PDF)

International journal of gynecology and obstetrics, 2002, Vol.76 (1), p.41-47
2002
Volltextzugriff (PDF)

Soil biology & biochemistry, 2013-05, Vol.60, p.165-172
2013
Volltextzugriff (PDF)

Chemical engineering transactions, 2015-12, Vol.46
2015
Volltextzugriff (PDF)


Physical review. B, Condensed matter and materials physics, 2009-06, Vol.79 (24), Article 245405
2009
Volltextzugriff (PDF)


Journal of applied physics, 2009-11, Vol.106 (9), p.094315-094315-15
2009
Volltextzugriff (PDF)


International Test Conference 1999. Proceedings (IEEE Cat. No.99CH37034), 1999, p.1141-1142
1999
Volltextzugriff (PDF)


International Test Conference 1999. Proceedings (IEEE Cat. No.99CH37034), 1999, p.1147-1147
1999
Volltextzugriff (PDF)


Trouble with scan
Proceedings - International Test Conference, 2002, p.1199
2002
Volltextzugriff (PDF)

Open Access
Cold delay defect screening
Proceedings 18th IEEE VLSI Test Symposium, 2000, p.183-188
2000
Volltextzugriff (PDF)

Real-time imaging, 1995-12, Vol.1 (6), p.427-435
1995
Volltextzugriff (PDF)

International Test Conference, 2003. Proceedings. ITC 2003, 2003, Vol.1, p.1229-1238
2003
Volltextzugriff (PDF)

Proceedings of the IEEE 1991 Custom Integrated Circuits Conference, 1991, p.13.2/1-13.2/4
1991
Volltextzugriff (PDF)

Physica. C, Superconductivity, 1994, Vol.224 (1), p.196-198
1994
Volltextzugriff (PDF)

Proceedings of WESCON'95, 1995, p.94
1995
Volltextzugriff (PDF)

Southcon/96 Conference Record, 1996, p.342-344
1996
Volltextzugriff (PDF)

Proceedings 1992 IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, 1992, p.305-314
1992
Volltextzugriff (PDF)

Electronics letters, 1990, Vol.26 (5), p.310-312
1990
Volltextzugriff (PDF)
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