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- Tanaka, J.
- Kanungo, R.
- Alcorta, M.
- Aoi, N.
- Bidaman, H.
- Burbadge, C.
- Christian, G.
- Cruz, S.
- Davids, B.
- Diaz Varela, A.
- Even, J.
- Hackman, G.
- Harakeh, M.N.
- Henderson, J.
- Ishimoto, S.
- Kaur, S.
- Keefe, M.
- Krücken, R.
- Leach, K.G.
- Lighthall, J.
- Padilla Rodal, E.
- Randhawa, J.S.
- Ruotsalainen, P.
- Sanetullaev, A.
- Smith, J.K.
- Workman, O.
- Tanihata, I.
2017
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Physics letters. B, 2017-11, Vol.774, p.268-272
- Tanaka, J.
- Kanungo, R.
- Alcorta, M.
- Aoi, N.
- Bidaman, H.
- Burbadge, C.
- Christian, G.
- Cruz, S.
- Davids, B.
- Diaz Varela, A.
- Even, J.
- Hackman, G.
- Harakeh, M.N.
- Henderson, J.
- Ishimoto, S.
- Kaur, S.
- Keefe, M.
- Krücken, R.
- Leach, K.G.
- Lighthall, J.
- Padilla Rodal, E.
- Randhawa, J.S.
- Ruotsalainen, P.
- Sanetullaev, A.
- Smith, J.K.
- Workman, O.
- Tanihata, I.
2017
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IEEE transactions on electron devices, 2007-02, Vol.54 (2), p.316-322
2007
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IEEE transactions on electron devices, 2006-04, Vol.53 (4), p.753-758
2006
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IEEE transactions on electron devices, 2004-01, Vol.51 (1), p.127-135
2004
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Solid-state electronics, 2009, Vol.53 (1), p.18-29
2009
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IEEE transactions on electron devices, 2000-06, Vol.47 (6), p.1192-1201
2000
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Physical review. C, 2023-09, Vol.108 (3), Article 034601
- Kovoor, J.
- Jones, K. L.
- Hooker, J.
- Vostinar, M.
- Kanungo, R.
- Pain, S. D.
- Alcorta, M.
- Allen, J.
- Andreoiu, C.
- Atar, L.
- Bardayan, D. W.
- Bhattacharjee, S. S.
- Blankstein, D.
- Burbadge, C.
- Burcher, S.
- Catford, W. N.
- Cha, S.
- Chae, K.
- Connolly, D.
- Davids, B.
- Esker, N. E.
- Garcia, F. H.
- Gillespie, S.
- Ghimire, R.
- Gula, A.
- Hackman, G.
- Hallam, S.
- Hellmich, M.
- Henderson, J.
- Holl, M.
- Jassal, P.
- King, S.
- Knight, T.
- Kruecken, R.
- Lepailleur, A.
- Liang, J.
- Morrison, L.
- O'Malley, P. D.
- Pereira-Lopez, X.
- Psaltis, A.
- Radich, A.
- Refsgaard, J.
- Shotter, A. C.
- Williams, M.
- Workman, O.
2023
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Journal of social and clinical psychology, 2006-06, Vol.25 (6), p.585-602
2006
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Physical review. C, 2019-02, Vol.99 (2), Article 021301
- Randhawa, J. S.
- Kanungo, R.
- Holl, M.
- Holt, J. D.
- Navrátil, P.
- Stroberg, S. R.
- Hagen, G.
- Jansen, G. R.
- Alcorta, M.
- Andreoiu, C.
- Barnes, C.
- Burbadge, C.
- Burke, D.
- Chen, A. A.
- Chester, A.
- Christian, G.
- Cruz, S.
- Davids, B.
- Even, J.
- Hackman, G.
- Henderson, J.
- Ishimoto, S.
- Jassal, P.
- Kaur, S.
- Keefe, M.
- Kisliuk, D.
- Krücken, R.
- Liang, J.
- Lighthall, J.
- McGee, E.
- Measures, J.
- Moukaddam, M.
- Padilla-Rodal, E.
- Shotter, A.
- Thompson, I. J.
- Turko, J.
- Williams, M.
- Workman, O.
2019
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Nuclear instruments & methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms, 2022-02, Vol.512 (C), p.6-11
- Hooker, J.
- Kovoor, J.
- Jones, K.L.
- Kanungo, R.
- Alcorta, M.
- Allen, J.
- Andreoiu, C.
- Atar, L.
- Bardayan, D.W.
- Bhattacharjee, S.S.
- Blankstein, D.
- Burbadge, C.
- Burcher, S.
- Catford, W.N.
- Cha, S.
- Chae, K.
- Connolly, D.
- Davids, B.
- Esker, N.
- Garcia, F.H.
- Gillespie, S.
- Ghimire, R.
- Gula, A.
- Hackman, G.
- Hallam, S.
- Hellmich, M.
- Henderson, J.
- Holl, M.
- Jassal, P.
- King, S.
- Knight, T.
- Kruecken, R.
- Lepailleur, A.
- Liang, J.
- Morrison, L.
- O’Malley, P.D.
- Pain, S.D.
- Pereira-Lopez, X.
- Psaltis, A.
- Radich, A.
- Shotter, A.C.
- Vostinar, M.
- Williams, M.
- Workman, O.
2022
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Physical modeling of temperature dependences of SOI CMOS devices and circuits including self-heating
1998
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Solid-state electronics, 2004-06, Vol.48 (6), p.919-926
2004
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Physical review. C, 2019-02, Vol.99 (2)
- Randhawa, J. S.
- Kanungo, R.
- Holl, M.
- Holt, J. D.
- Navrátil, P.
- Stroberg, S. R.
- Hagen, G.
- Jansen, G. R.
- Alcorta, M.
- Andreoiu, C.
- Barnes, C.
- Burbadge, C.
- Burke, D.
- Chen, A. A.
- Chester, A.
- Christian, G.
- Cruz, S.
- Davids, B.
- Even, J.
- Hackman, G.
- Henderson, J.
- Ishimoto, S.
- Jassal, P.
- Kaur, S.
- Keefe, M.
- Kisliuk, D.
- Krücken, R.
- Liang, J.
- Lighthall, J.
- McGee, E.
- Measures, J.
- Moukaddam, M.
- Padilla-Rodal, E.
- Shotter, A.
- Thompson, I. J.
- Turko, J.
- Williams, M.
- Workman, O.
2019
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IEEE transactions on electron devices, 1998-10, Vol.45 (10), p.2138-2145
1998
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Arthroplasty today, 2021-06, Vol.9, p.65-67
2021
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Solid-state electronics, 2004-02, Vol.48 (2), p.259-270
2004
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PsycCritiques, 2006-01, Vol.51 (2), p.No Pagination Specified-No Pagination Specified
2006
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PsycCritiques, 2005-03, Vol.50 (13), p.No Pagination Specified-No Pagination Specified
2005
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Digest of Technical Papers. 2005 Symposium on VLSI Technology, 2005, 2005, p.200-201
2005
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International Conference on Computer Aided Design: Proceedings of the 2005 IEEE/ACM International conference on Computer-aided design; 06-10 Nov. 2005, 2005, p.211-216
2005
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2008 IEEE International SOI Conference, 2008, p.151-152
2008
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Journal of chemical education, 1971-05, Vol.48 (5), p.303
1971
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Inorganic chemistry, 1970-05, Vol.9 (5), p.1252-1254
1970
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2008 IEEE Custom Integrated Circuits Conference, 2008, p.265-272
2008
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