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IEEE transactions on electron devices, 1979-01, Vol.26 (1), p.2-9
1979
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MOS VLSI reliability and yield trends
Proceedings of the IEEE, 1986-12, Vol.74 (12), p.1715-1729
1986
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16th International Reliability Physics Symposium, 1978, p.33-40
1978
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12th International Reliability Physics Symposium, 1974, p.259-266
1974
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IEEE transactions on electron devices, 1979-01, Vol.26 (1), p.16-21
1979
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1984 International Electron Devices Meeting, 1984, p.50-55
1984
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10th Reliability Physics Symposium, 1972, p.120-125
1972
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