Am Donnerstag, den 15.8. kann es zwischen 16 und 18 Uhr aufgrund von Wartungsarbeiten des ZIM zu Einschränkungen bei der Katalognutzung kommen.
Sie befinden Sich nicht im Netzwerk der Universität Paderborn. Der Zugriff auf elektronische Ressourcen ist gegebenenfalls nur via VPN oder Shibboleth (DFN-AAI) möglich. mehr Informationen...
2008 IEEE International Conference on Integrated Circuit Design and Technology and Tutorial, 2008, p.9-12
2008
Volltextzugriff (PDF)

2003 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings, 2003. 41st Annual, 2003, p.303-306
2003
Volltextzugriff (PDF)


Microelectronics and reliability, 2003-05, Vol.43 (5), p.735-739
2003
Volltextzugriff (PDF)

Japanese Journal of Applied Physics, 2003, Vol.42 (Part 1, No. 4B), p.1892-1896
2003
Volltextzugriff (PDF)




2000 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report (Cat. No.00TH8515), 2000, p.125-128
2000
Volltextzugriff (PDF)




2001 International Semiconductor Device Research Symposium. Symposium Proceedings (Cat. No.01EX497), 2001, p.38-41
2001
Volltextzugriff (PDF)

Nature communications, 2020-11, Vol.11 (1), p.5721-5721, Article 5721
2020
Volltextzugriff (PDF)



Nature communications, 2020-02, Vol.11 (1), p.710-710, Article 710
2020
Volltextzugriff (PDF)

2000 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report (Cat. No.00TH8515), 2000, p.116-119
2000
Volltextzugriff (PDF)







Suchergebnisse filtern
Filter anzeigen
Erscheinungsjahr
n.n
n.n
Neu hinzugefügt