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Cantilever influence suppression of contactless IC-testing by electric force microscopy
Microelectronics and reliability, 1998-06, Vol.38 (6), p.981-986
1998
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Quantitative high frequency-electric force microscope testing of monolithic microwave integrated circuits at 20 GHz
Microelectronics and reliability, 1999, Vol.39 (6), p.951-956
1999
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Elektrische Signale in Mikrobauteilen: Messungen mit dem Rastersondenmikroskop
Materialprüfung, 1999, Vol.41 (10), p.414-417
1999
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Contactless gigahertz testing
Proceedings International Test Conference 1998 (IEEE Cat. No.98CH36270), 1998, p.843-852
1998
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A degradation monitor for the light output of LEDs based on cathodoluminescence signals and junction ideality factor
Proceedings of International Reliability Physics Symposium, 1996, p.188-194
1996
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