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IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 2000-12, Vol.19 (12), p.1428-1448
2000
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Proceedings International Test Conference 2001 (Cat. No.01CH37260), 2001, p.54-63
2001
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16th Asian Test Symposium (ATS 2007), 2007, p.7-8
2007
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IEEE design & test of computers, 2008-03, Vol.25 (2), p.114-120
2008
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14th Asian Test Symposium (ATS'05), 2005, p.xxxi-xxxi
2005
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The Limits of Compression
2008 IEEE International Test Conference, 2008, p.1-2
2008
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IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 1996-08, Vol.15 (8), p.1020-1025
1996
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38th International Symposium on Multiple Valued Logic (ismvl 2008), 2008, p.1-1
2008
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25th IEEE VLSI Test Symposium (VTS'07), 2007, p.67-74
2007
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IEEE design & test of computers, 2005-05, Vol.22 (3), p.282-282
2005
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2007 IEEE International Test Conference, 2007, p.1-7
2007
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2008 17th Asian Test Symposium, 2008, p.13-18
2008
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Proceedings. 21st VLSI Test Symposium, 2003, 2003, p.9-14
2003
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Computer (Long Beach, Calif.), 2002-10, Vol.35 (10), p.63-68
2002
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Keynote Abstract: Thomas Williams
2008 11th EUROMICRO Conference on Digital System Design Architectures, Methods and Tools, 2008, p.xxiv-xxiv
2008
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IEEE International Conference on Test, 2005, 2005, p.10 pp.-925
2005
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Proceedings Seventh Asian Test Symposium (ATS'98) (Cat. No.98TB100259), 1998, p.2-6
1998
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The Future Is Low Power and Test
2008 13th European Test Symposium, 2008, p.4-4
2008
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Changing the scan enable during shift
22nd IEEE VLSI Test Symposium, 2004. Proceedings, 2004, p.73-78
2004
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Computer (Long Beach, Calif.), 1999-11, Vol.32 (11), p.42-45
1999
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Strategies for low-cost test
IEEE design & test of computers, 2001-11, Vol.18 (6), p.47-54
2001
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Tester retargetable patterns
Proceedings International Test Conference 2001 (Cat. No.01CH37260), 2001, p.721-727
2001
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