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IEEE transactions on components, packaging, and manufacturing technology (2011), 2014-01, Vol.4 (1), p.46-56
2014
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Journal of electronic materials, 2022-11, Vol.51 (11), p.6492-6502
2022
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Journal of electronic materials, 2019-08, Vol.48 (8), p.5241-5256
2019
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IEEE transactions on components, packaging, and manufacturing technology (2011), 2015-06, Vol.5 (6), p.762-770
2015
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2014 Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium (SEMI-THERM), 2014, p.133-138
2014
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Journal of electronic materials, 2015-12, Vol.44 (12), p.4864-4883
2015
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2017 33rd Thermal Measurement, Modeling & Management Symposium (SEMI-THERM), 2017, p.40-47
2017
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2015 IEEE MTT-S International Microwave Symposium, 2015, p.1-4
2015
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2014 Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium (SEMI-THERM), 2014, p.1-7
2014
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2010 26th Annual IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium (SEMI-THERM), 2010, p.93-99
2010
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2015 31st Thermal Measurement, Modeling & Management Symposium (SEMI-THERM), 2015, p.240-247
2015
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Journal of Surface Mount Technology, 2023-07, Vol.36 (2), p.2-7
2023
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2010 26th Annual IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium (SEMI-THERM), 2010, p.210-216
2010
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13th InterSociety Conference on Thermal and Thermomechanical Phenomena in Electronic Systems, 2012, p.297-302
2012
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29th IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium, 2013, p.159-165
2013
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2022 38th Semiconductor Thermal Measurement, Modeling & Management Symposium (SEMI-THERM), 2022, p.82-89
2022
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2021 37th Semiconductor Thermal Measurement, Modeling & Management Symposium (SEMI-THERM), 2021, p.20-26
2021
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2020 36th Semiconductor Thermal Measurement, Modeling & Management Symposium (SEMI-THERM), 2020, p.124-130
2020
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IEEE transactions on components and packaging technologies, 2005-12, Vol.28 (4), p.674-679
2005
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Twenty-Second Annual IEEE Semiconductor Thermal Measurement And Management Symposium, 2006, p.178-185
2006
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Twentieth Annual IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium (IEEE Cat. No.04CH37545), 2004, p.308-313
2004
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