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2008
Volltextzugriff (PDF)
2023 International Electron Devices Meeting (IEDM), 2023, p.1-4
- Radosavljevic, Marko
- Huang, C.-Y.
- Galatage, R.
- Qayyum, M. F.
- Wiedemer, J. A.
- Clinton, E.
- Bennett, D.
- Ryu, H.
- Thomas, N. K.
- Morrow, P.
- Michaelos, T.
- Nahm, R.
- Briggs, N.
- Roy, A.
- Kuo, C. C.
- Atanasov, S.
- Ghose, S.
- Zussblatt, N.
- Kumar, N.
- Unluer, D.
- Beasley, M.
- Tan, J. M.
- Tan, L. H.
- Elkins, M.
- Cekli, S.
- Hermann, R.
- Shoer, L.
- El Qader, M. Abd
- Desai, U.
- Edwards, T.
- Prasad, P.
- Armstrong, J.
- Ghosh, M.
- Liao, Y.-A.
- Kapinus, V.
- Dixit, D.
- Harper, M. K.
- Tran, P.
- Cheong, K. L.
- Fatehi, A.
- Oni, A. A.
- Franco, N.
- Krist, B. J.
- Metz, M. V.
- Dewey, G.
- Schenker, R.
- Kobrinsky, M. J.
2023
Volltextzugriff (PDF)
Process Innovations for Future Technology Nodes with Back-Side Power Delivery and 3D Device Stacking
- Kobrinsky, M.
- Silva, J. D
- Mannebach, E.
- Mills, S.
- El Qader, M. Abd
- Adebayo, O.
- Radhakrishna, N. Arkali
- Beasley, M.
- Chawla, J.
- Chugh, S.
- Clinton, E.
- Dasgupta, A.
- Desai, U.
- De Re, E.
- Dewey, G.
- Edwards, T.
- Engel, C.
- Galatage, R.
- Ghani, T.
- Gudmundsson, V.
- Hibbeler, L.
- Hicks, J.
- Krist, B.
- Mehandru, R.
- Meric, I.
- Morrow, P.
- Nandi, D.
- Pantuso, D.
- Patel, P.
- Pawashe, C.
- Radosavljevic, M.
- Ramamurthy, R.
- Samanta, D.
- Cekli, S.
- Shoer, L.
- Amour, A. St
- Tan, L. H.
- Yemenicioglu, S.
- Wang, X.
- Wiedemer, J. A.
2023
Volltextzugriff (PDF)
2008 Symposium on VLSI Technology, 2008, p.128-129
- Auth, C.
- Cappellani, A.
- Chun, J.-S.
- Dalis, A.
- Davis, A.
- Ghani, T.
- Glass, G.
- Glassman, T.
- Harper, M.
- Hattendorf, M.
- Hentges, P.
- Jaloviar, S.
- Joshi, S.
- Klaus, J.
- Kuhn, K.
- Lavric, D.
- Lu, M.
- Mariappan, H.
- Mistry, K.
- Norris, B.
- Rahhal-orabi, N.
- Ranade, P.
- Sandford, J.
- Shifren, L.
- Souw, V.
- Tone, K.
- Tambwe, F.
- Thompson, A.
- Towner, D.
- Troeger, T.
- Vandervoorn, P.
- Wallace, C.
- Wiedemer, J.
- Wiegand, C.
2008
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2009 IEEE International Reliability Physics Symposium, 2009, p.499-504
2009
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2008 IEEE International Reliability Physics Symposium, 2008, p.667-668
2008
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CD-ROM professional, 1994-09, Vol.7 (5), p.45-48
1994
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2014 IEEE International Electron Devices Meeting, 2014, p.3.7.1-3.7.3
- Natarajan, S.
- Agostinelli, M.
- Akbar, S.
- Bost, M.
- Bowonder, A.
- Chikarmane, V.
- Chouksey, S.
- Dasgupta, A.
- Fischer, K.
- Fu, Q.
- Ghani, T.
- Giles, M.
- Govindaraju, S.
- Grover, R.
- Han, W.
- Hanken, D.
- Haralson, E.
- Haran, M.
- Heckscher, M.
- Heussner, R.
- Jain, P.
- James, R.
- Jhaveri, R.
- Jin, I.
- Kam, H.
- Karl, E.
- Kenyon, C.
- Liu, M.
- Luo, Y.
- Mehandru, R.
- Morarka, S.
- Neiberg, L.
- Packan, P.
- Paliwal, A.
- Parker, C.
- Patel, P.
- Patel, R.
- Pelto, C.
- Pipes, L.
- Plekhanov, P.
- Prince, M.
- Rajamani, S.
- Sandford, J.
- Sell, B.
- Sivakumar, S.
- Smith, P.
- Song, B.
- Tone, K.
- Troeger, T.
- Wiedemer, J.
- Yang, M.
- Zhang, K.
2014
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CD-ROM professional, 1995-04, Vol.8 (4), p.36-38
1995
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American family physician, 2018-07, Vol.98 (2), p.99-104
2018
Volltextzugriff (PDF)
Advanced Management Journal, 1970-10, Vol.35 (4), p.59
1970
Volltextzugriff (PDF)
Journal of hypertension, 2017-08, Vol.35 (8), p.1635-1645
2017
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CD-ROM Professional, 1995, Vol.8 (4), p.36
1995
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Pain medicine (Malden, Mass.), 2009-07, Vol.10 (5), p.858-865
2009
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New Zealand journal of ecology, 2007-01, Vol.31 (2), p.169-185
2007
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The Journal of urology, 1964-12, Vol.92, p.723-727
1964
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Journal of milk technology, 1941-07, Vol.4 (4), p.187-194
1941
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Journal of milk and food technology, 1941-07, Vol.4 (4), p.187-194
1941
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