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siRNA-mediated knockdown of Pdcd4 expression causes upregulation of p21(Waf1 Cip1) expression
Oncogene, 2008-08, Vol.27 (35), p.4820-4829
2008
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Tumor suppressor protein Pdcd4 interacts with Daxx and modulates the stability of Daxx and the Hipk2-dependent phosphorylation of p53 at serine 46
Oncogenesis (New York, NY), 2013-01, Vol.2 (1), p.e37-e37
2013
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Disturbed balance of expression between XIAP and Smac DIABLO during tumour progression in renal cell carcinomas
British journal of cancer, 2004-10, Vol.91 (7), p.1349-1357
2004
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Role of Survivin Splice Variants in Pediatric Acute Precursor B Lymphoblastic Leukemia
Klinische Pädiatrie, 2007-05, Vol.219 (3), p.127-133
2007
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Transport of cytochrome c derivatives by the bacterial Tat protein translocation system
Molecular microbiology, 2001-07, Vol.41 (1), p.241-246
2001
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Association of Tumor Suppressor Protein Pdcd4 With Ribosomes Is Mediated by Protein-Protein and Protein-RNA Interactions
Genes & cancer, 2010-03, Vol.1 (3), p.293-301
2010
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Expression of death-associated protein kinase during tumour progression of human renal cell carcinomas: Hypermethylation-independent mechanisms of inactivation
European journal of cancer (1990), 2006, Vol.42 (2), p.264-274
2006
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Role of Survivin Splice Variants in Pediatric Acute Precursor B Lymphoblastic Leukemia
Klinische Pädiatrie, 2007-05, Vol.219 (3), p.127-133
2007
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Kidney Cancer, Abstract 65–72, Posters
Pathology, research and practice, 2003, Vol.199 (4), p.195-197
2003
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Dielectric function of wurtzite GaN and AlN thin films
Solid state communications, 1999-09, Vol.112 (3), p.129-133
1999
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Optical properties of SiC investigated by spectroscopic ellipsometry from 3.5 to 10 eV
Thin solid films, 2000-03, Vol.364 (1-2), p.111-113
2000
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VUV-ellipsometry on BexZn1−xSe and BeTe
Journal of electronic materials, 1999-06, Vol.28 (6), p.670-677
1999
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VUV Ellipsometry on Beryllium Chalcogenides
physica status solidi (b), 1999-09, Vol.215 (1), p.15-20
1999
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Optical characterization of wide bandgap semiconductors
Thin solid films, 2000-03, Vol.364 (1-2), p.98-106
2000
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Dielectric function of hexagonal AlN films determined by spectroscopic ellipsometry in the vacuum-uv spectral range
Physical review. B, Condensed matter, 1999, Vol.59 (3), p.1845-1849
1999
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Spectroscopic ellipsometry measurements of Al sub(x)Ga sub(1-x)N in the energy range 3-25 eV
Thin solid films, 1998-02, Vol.313-314 (1-2), p.745-750
1998
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Spectroscopic ellipsometry measurements of Al Ga1−N in the energy range 3–25 eV
Thin solid films, 1998-02, Vol.313-314, p.745-750
1998
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Spectroscopic ellipsometry measurements of Al xGa 1−xN in the energy range 3–25 eV
Thin solid films, 1998, Vol.313, p.745-750
1998
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VUV-ellipsometry on Be sub(x)Zn sub(1-x)Se and BeTe
Journal of electronic materials, 1999-01, Vol.28 (6), p.670-677
1999
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AlGaN-Based Bragg Reflectors
MRS Internet journal of nitride semiconductor research, 1997, Vol.2, Article e22
1997
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Spectroscopic ellipsometry measurements of AlxGa1-xN in the energy range 3-25 eV
Thin solid films, 1998, Vol.313-14, p.745-750
1998
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AlGaN-Based Bragg Reflectors
MRS Internet journal of nitride semiconductor research, 1996-01, Vol.1
1996
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Ellipsometric studies of Be x Zn 1 − x Se between 3 eV and 25 eV
Physical review. B, Condensed matter, 1999-04, Vol.59 (15), p.10071-10075
1999
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