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Session Abstract
24th IEEE VLSI Test Symposium, 2006, p.154-155
2006
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IEEE design & test of computers, 2005-05, Vol.22 (3), p.200-205
2005
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Design, Automation and Test in Europe, 2005, p.572-572
2005
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Annual ACM IEEE Design Automation Conference: Proceedings of the 42nd annual conference on Design automation; 13-17 June 2005, 2005, p.167-167
2005
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