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- Pei, C.
- Wang, G.
- Aquilino, M.
- Arnold, N.
- Chandra, B.
- Chang, W.
- Chen, X.
- Davies, W.
- Hawkins, K.
- Jaeger, D.
- Johnson, J. B.
- Kwon, O.-J
- Krishnasamy, R.
- Kong, W.
- Liu, J.
- Li, X.
- Messenger, B.
- Nelson, E.
- Nummy, K.
- Onishi, K.
- Poindexter, D.
- Rombawa, S.
- Sheraw, C.
- Tzou, T.
- Wang, X.
- Yin, M.
- Freeman, G.
- Kirahata, T.
- Maciejewski, E.
- Norum, J.
- Robson, N.
- Narasimha, S.
- Parries, P.
- Agnello, P.
- Malik, R.
- Iyer, S. S.
2014
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2010 Symposium on VLSI Technology, 2010, p.19-20
- Basker, V S
- Standaert, T
- Kawasaki, H
- Yeh, C
- Maitra, K
- Yamashita, T
- Faltermeier, J
- Adhikari, H
- Jagannathan, H
- Wang, J
- Sunamura, H
- Kanakasabapathy, S
- Schmitz, S
- Cummings, J
- Inada, A
- Lin, C
- Kulkarni, P
- Zhu, Y
- Kuss, J
- Yamamoto, T
- Kumar, A
- Wahl, J
- Yagishita, A
- Edge, L F
- Kim, R H
- Mclellan, E
- Holmes, S J
- Johnson, R C
- Levin, T
- Demarest, J
- Hane, M
- Takayanagi, M
- Colburn, M
- Paruchuri, V K
- Miller, R J
- Bu, H
- Doris, B
- McHerron, D
- Leobandung, E
- O'Neill, J
2010
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Thrombosis research, 2011, Vol.127, p.S127-S127
2011
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SCIENTIA SINICA Technologica, 2024-03, Vol.54 (3), p.459-476
2024
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催化学报, 2011, Vol.32 (8), p.1336-1341
2011
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IEEE journal of solid-state circuits, 2007, Vol.42 (1), p.210-218
2007
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IEEE journal of solid-state circuits, 2007-01, Vol.42 (1), p.210-218
2007
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Proceedings of 1994 IEEE GaAs IC Symposium, 1994, p.325-328
1994
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Electronics letters, 1995-04, Vol.31 (9), p.721-722
1995
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Electronics letters, 1995-04, Vol.31 (9), p.721-722
1995
Volltextzugriff (PDF)
GaAs IC Symposium Technical Digest 1992, 1992, p.71-74
1992
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2006 International Electron Devices Meeting, 2006, p.1-4
- Wang, G.
- Cheng, K.
- Ho, H.
- Faltermeier, J.
- Kong, W.
- Kim, H.
- Cai, J.
- Tanner, C.
- McStay, K.
- Balasubramanyam, K.
- Pei, C.
- Ninomiya, L.
- Li, X.
- Winstel, K.
- Dobuzinsky, D.
- Naeem, M.
- Zhang, R.
- Deschner, R.
- Brodsky, M.J.
- Allen, S.
- Yates, J.
- Feng, Y.
- Marchetti, P.
- Norris, C.
- Casarotto, D.
- Benedict, J.
- Kniffm, A.
- Parise, D.
- Khan, B.
- Barth, J.
- Parries, P.
- Kirihata, T.
- Norum, J.
- Iyer, S.S.
2006
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2001 Symposium on VLSI Technology. Digest of Technical Papers (IEEE Cat. No.01 CH37184), 2001, p.101-102
- Schiml, T.
- Biesemans, S.
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- Burrell, L.
- Cowley, A.
- Chen, K.C.
- Von Ehrenwall, A.
- Von Ehrenwall, B.
- Felsner, P.
- Gill, J.
- Grellner, F.
- Guarin, F.
- Han, L.K.
- Hoinkis, M.
- Hsiung, E.
- Kaltalioglu, E.
- Kim, P.
- Knoblinger, G.
- Kulkarni, S.
- Leslie, A.
- Mono, T.
- Schafbauer, T.
- Schroeder, U.
- Schruefer, K.
- Spooner, T.
- Warner, D.
- Wang, C.
- Wong, R.
- Demm, E.
- Leung, P.
2001
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International Electron Devices Meeting 2000. Technical Digest. IEDM (Cat. No.00CH37138), 2000, p.563-566
2000
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2000 Symposium on VLSI Technology. Digest of Technical Papers (Cat. No.00CH37104), 2000, p.146-147
2000
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Electronics letters, 2006-06, Vol.42 (13), p.1-1
2006
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